prof. RNDr.

Jiří Spousta

Ph.D.

FSI, ÚFI OFPLP – profesor

+420 54114 2848
spousta@fme.vutbr.cz

Odeslat VUT zprávu

prof. RNDr. Jiří Spousta, Ph.D.

Publikace

  • 2018

    BŘÍNEK, L.; KVAPIL, M.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Plasmon Resonances of Mid-IR Antennas on Absorbing Substrate: Optimization of Localized Plasmon-Enhanced Absorption upon Strong Coupling Effect. ACS Photonics, 2018, roč. 5, č. 11, s. 4378-4385. ISSN: 2330-4022.
    Detail

  • 2017

    KALOUSEK, R.; SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T.; SHEN, Z.; SALAMON, D.; MACA, K. Rapid heating of zirconia nanoparticle- powder compacts by infrared radiation heat transfer. Journal of the European Ceramic Society, 2017, roč. 37, č. 3, s. 1067-1072. ISSN: 0955-2219.
    Detail

    DVOŘÁK, P.; ÉDES, Z.; KVAPIL, M.; ŠAMOŘIL, T.; LIGMAJER, F.; HRTOŇ, M.; KALOUSEK, R.; KŘÁPEK, V.; DUB, P.; SPOUSTA, J.; VARGA, P.; ŠIKOLA, T. Imaging of near-field interference patterns by a-SNOM – influence of illumination wavelength and polarization state. OPTICS EXPRESS, 2017, roč. 25, č. 14, s. 16560-16573. ISSN: 1094-4087.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2016

    DVOŘÁK, P.; KOLÍBAL, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Fotoluminiscence h- BN detekována pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli. Jemná mechanika a optika, 2016, roč. 61, č. 6, s. 149-150. ISSN: 0447-6441.
    Detail

  • 2015

    NEUMAN, J.; NOVÁČEK, Z.; PAVERA, M.; ZLÁMAL, J.; KALOUSEK, R.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. Experimental optimization of power-function-shaped drive pulse for stick- slip piezo actuators. PRECISION ENGINEERING- JOURNAL OF THE INTERNATIONAL SOCIETIES FOR PRECISION ENGINEERING AND NANOTECHNOLOGY, 2015, roč. 42, č. 1, s. 187-194. ISSN: 0141- 6359.
    Detail

  • 2014

    DVOŘÁK, P.; LIGMAJER, F.; ŠAMOŘIL, T.; HRTOŇ, M.; KLEMENT, R.; BABOCKÝ, J.; TUČEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Využití reflexní optické spektroskopie v plazmonice. Jemná mechanika a optika, 2014, roč. 59, č. 6- 7, s. 162-164. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

  • 2013

    UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; HLADÍK, L.; SPOUSTA, J.; IM, M.; FISCHER, P.; EIBAGI, N.; KAN, J.; FULLERTON, E.; ŠIKOLA, T. Dynamic switching of the spin circulation in tapered magnetic nanodisks. Nature Nanotechnology (print), 2013, roč. 8, č. 5, s. 341-346. ISSN: 1748- 3387.
    Detail

  • 2012

    SPOUSTA, J.; PRŮŠA, S.; TROJÁNEK, A.; DUB, P. Kvalitní učebnice fyziky - důležitá opora výuky. Československý časopis pro fyziku, 2012, roč. 62, č. 5- 6, s. 421-425. ISSN: 0009- 0700.
    Detail

  • 2011

    MACH, J.; ŠAMOŘIL, T.; VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; ŠIKOLA, T. An ultra-low energy (30–200 eV) ion-atomic beam source for ion-beam- assisted deposition in ultrahigh vacuum. Review of Scientific Instruments, 2011, roč. 82, č. 8, s. 083302- 1 (083302-7 s.)ISSN: 0034- 6748.
    Detail

  • 2010

    URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process. NANOTECHNOLOGY, 2010, roč. 21, č. 14, s. 145304- 1 (145304-7 s.)ISSN: 0957-4484.
    Detail

    LYSÁČEK, D.; VÁLEK, L.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T.; ŠPETÍK, R. Thermal stability of undoped polycrystalline silicon layers on antimony and boron- doped substrates. Thin Solid Films, 2010, roč. 518, č. 14, s. 4052-4057. ISSN: 0040- 6090.
    Detail

  • 2009

    BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; DUB, P.; ŠIKOLA, T. Role of humidity in local anodic oxidation: A study of water condensation and electric field distribution. PHYSICAL REVIEW B, 2009, roč. 79, č. 19, s. 195406-195412. ISSN: 1098- 0121.
    Detail

    SPOUSTA, J.; ZLÁMAL, J.; URBÁNEK, M.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T. Citlivostní analýza vyhodnocování optických parametrů tenkých vrstev (aneb jaké jsou naše šance získat věrohodný výsledek fitováním spekter odrazivosti). Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 225-228. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

  • 2008

    PLŠEK, R.; UHLÍŘ, V.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Měření magnetických vlastností tenkých vrstev pomocí magnetooptického Kerrova jevu. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 184-186. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    SPOUSTA, J. Malé velké věci aneb příprava a analýza nanostruktur v laboratořích Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Československý časopis pro fyziku, 2008, roč. 58, č. 2, s. 87-90. ISSN: 0009- 0700.
    Detail

    TOMANEC, O.; HRNČÍŘ, T.; LOVICAR, L.; ŠUSTR, L.; BŘÍNEK, L.; KALOUSEK, R.; CHMELÍK, R.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Studium vlastností mikro- a nanostruktur v oblasti plazmoniky na Ústavu fyzikálního inženýrství FSI VUT v Brně. Jemná mechanika a optika, 2008, roč. 52, č. 6, s. 187-189. ISSN: 0447- 6441.
    Detail

  • 2007

    KOLÍBAL, M.; TOMANEC, O.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; MARKIN, S.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. TOF-LEIS spectra of Ga/Si: Peak shape analysis. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2007, roč. 265, č. 2, s. 569-575. ISSN: 0168- 583X.
    Detail

    URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; BĚHOUNEK, T.; ŠIKOLA, T. Imaging reflectometery in situ. Applied Optics, 2007, roč. 46, č. 25, s. 6309-6313. ISSN: 0003- 6935.
    Detail

    BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. The influence of humidity on the kinetics of local anodic oxidation. Journal of Physics: Conference Series, 2007, roč. 61, č. 0, s. 75-79. ISSN: 1742- 6588.
    Detail

    ČECHAL, J.; MACH, J.; VOBORNÝ, S.; KOSTELNÍK, P.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A study of Ga layers on Si(100)-(2x1) by SR-PES: influence of adsorbed water. Surface Science, 2007, roč. 601, č. 9, s. 2047-2053. ISSN: 0039- 6028.
    Detail

  • 2006

    SPOUSTA, J.; URBÁNEK, M.; CHMELÍK, R.; BĚHOUNEK, T.; PLŠEK, R.; ŠIKOLA, T.; NAVRÁTIL, K. Vývoj zařízení k in-situ stanovení rozložení tlouštěk vrstev pomocí UV- VIS zobrazovací reflektometrie. 2006, roč. 51, č. 9, s. 239-245. ISSN: 0447- 6411.
    Detail

  • 2005

    CHMELÍK, R.; LOVICAR, L.; KOLMAN, P.; SPOUSTA, J.; FORET, Z. Polychromatic coherent transfer function for a low- coherence interference microscope with achromatic fringes. In Focus on Microscopy 2005 - Jena, Germany. March 20-23, 2005. Appendix to the abstract book. Jena, Germany: 2005. s. 120-120.
    Detail

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Seville: 2005.
    Detail

    BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Manchester: 2005. s. 178-178.
    Detail

    KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; TOMANEC, O.; POTOČEK, M.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. Application of ToF LEIS for Monitoring the growth and thermal treatment of Ga ultrathin films. 1. Vienna: 2005. s. 191-191.
    Detail

    VOBORNÝ, S.; MACH, J.; POTOČEK, M.; KOSTELNÍK, P.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of GaN Ultrathin Films grown by Direct Ion Beam Deposition. 1. Vienna: 2005. s. 117-117.
    Detail

    SPOUSTA, J.; URBÁNEK, M.; NEUGEBAUER, P.; ŠIKOLA, T.; NAVRÁTIL, K. UV- VIS Areal Reflectometry. 1. Vienna: 2005. s. 111-111.
    Detail

    ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A Study of Gallium Growth on Si(111) 7x7 by SRPES. 1. Vienna: 2005. s. 259-259.
    Detail

  • 2004

    VOBORNÝ, S.; MACH, J.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; TOMANEC, O.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Application of Complex UHV Apparaturus in a Study of Low-tepmerature Gallium- nitride Ultrathin Film Growth. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9, s. 265 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; SZOTKOWSKI, R.; CHMELÍK, R.; BUČEK, M.; ŠIKOLA, T. Instrument for thin film diagnostics by UV spectroscopic reflectometry. Surface and Interface Analysis, 2004, roč. 36, č. 8, s. 1102 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

    VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; MACH, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; PRŮŠA, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Deposition and in-situ charakterization of ultra- thin films. Thin Solid Films, 2004, roč. 459, č. 1- 2, s. 17 ( s.)ISSN: 0040- 6090.
    Detail

    ČECHAL, J.; TICHOPÁDEK, P.; NEBOJSA, A.; BONAVENTUROVÁ, O.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS. Surface and Interface Analysis, 2004, roč. 38, č. 8, s. 1218 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

  • 2003

    ŠKODA, D., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., BURIAN, D., SPOUSTA, J., MATĚJKA, F., ŠIKOLA, T. Aplikace AFM v oblasti přípravy a studia nanostruktur. Československý časopis pro fyziku, 2003, roč. 53, č. 2, s. 105 ( s.)ISSN: 0009- 0700.
    Detail

    URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, K., BUČEK, M., NEUGEBAUER, P., ŠIKOLA, T. Systém pro měření homogenity optických vlastností tenkých vrstev. 2003, roč. 48, č. 6, s. 163 ( s.)ISSN: 0447- 6411.
    Detail

    VOBORNÝ, S., KOLÍBAL, M., MACH, J., ČECHAL, J., BÁBOR, P., PRŮŠA, S., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T. Deposition and in situ characterization of ultra- thin films. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 45 ( s.)
    Detail

    VAIS, J.; ŽENÍŠEK, J.; MRÁZ, M.; DITTRICHOVÁ, L.; SPOUSTA, J.; RAFAJA, D.; ŠIKOLA, T. Deposition of Cobalt Nitride Films by IBAD. In EVC 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 116 ( s.)
    Detail

    VAIS, J., ŽENÍŠEK, J., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J., DITTRICHOVÁ, L., SPOUSTA, J., BOCHNÍČEK, Z., ŠIKOLA, T. Interface and depth profile analysis of magnetic ultrathin films. In ECASIA 10 Book of Abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. s. 226 ( s.)
    Detail

    URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, K., FIEDOR, M., CHMELÍK, R., BUČEK, M., ŠIKOLA, T. Instrument for Thin Films Diagnostics by UV Spectroscopic Reflectometry. In ECASIA ' 03 Book of abstracts. Berlin: ECASIA, 2003. s. 284 ( s.)
    Detail

  • 2002

    LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., ŠKODA, D., MATĚJKA, F., KALOUSEK, R. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/ Nanostructures. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1, s. 352 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

    SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., URBÁNEK, M., NAVRÁTIL, K., JIRUŠE, J., CHMELÍK, R., NEBOJSA, A. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1, s. 664 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

  • 2001

    PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. s. 486 ( s.)ISBN: 80-214-1892- 3.
    Detail

    SPOUSTA, J., URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. s. 295 ( s.)
    Detail

    LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., KALOUSEK, R., MATĚJKA, F., ŠKODA, D. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/ Nanostructures. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. s. 320 ( s.)
    Detail

    DUB, P., SVĚTLÍK, J., ŠTRUNC, M., KOMRSKA, J., ZDRAŽIL, V., LIŠKA, M., DĚDEK, L., TOMÁNEK, P., LENCOVÁ, B., HORÁK, M., ŠIKOLA, T., BARTLOVÁ, M., SPOUSTA, J., NAVRÁTIL, V., HOLÝ, V., MITVALSKÝ, V., MUSILOVÁ, J., HOUFEK, K., ECKERTOVÁ, L., HAVRÁNEK, A., OBDRŽÁLEK, J., NOVOTNÝ, J., LENC, M., CHVOSTA, P., BOCHNÍČEK, Z. Fyzika. In Fyzika. Překlady vysokoškolských učebnic. Brno: Vutium Brno, 2001. s. 1 ( s.)ISBN: 80-214-1869- 9.
    Detail

  • 2000

    URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., CHMELÍK, R., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Zařízení k in situ sledování plošné homogenity růstu tenkých neabsorbujících vrstev. In Sborník abstraktů přednášek konference Optické vlastnosti pevných látek v základním výzkum a aplikacích. Brno: MU Brno, 2000. s. 17 ( s.)
    Detail

    ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., TICHOPÁDEK, P., KRÁL, J., RAFAJA, D., RANNO, L. Deposition of Thin Films/ Multilayers by IBAD. In procedings of conference Metal 2000. Ostrava: VŠB Ostrava, 2000. s. 81 ( s.)
    Detail

    LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., BÁBOR, P., DUARTE, J., MATĚJKA, F. Etching of Microstructures and Modification of Solid Surfaces by Low Energy Ion Beams. In MicroMat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. s. 919 ( s.)
    Detail

    URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films. In Micromat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. s. 604 ( s.)
    Detail

*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.