Detail projektu

Nové metody čištění elektronických sestav s vyšší účinností, menším ekologickým dopadem a nižší energetickou náročností

Období řešení: 01.01.2011 — 31.12.2014

O projektu

New methods for the cleaning of assembled substrates with higher effectivity and lower ecological and energy comsumption impact

Označení

TA01011754

Originální jazyk

čeština

Řešitelé

Szendiuch Ivan, doc. Ing., CSc.
- hlavní řešitel (01.01.2011 - nezadáno)
Buršík Martin, Ing., Ph.D.
- spoluřešitel (01.01.2011 - 31.12.2014)
Jankovský Jaroslav, Ing.
- spoluřešitel (01.01.2011 - 31.12.2014)
Řezníček Michal, Ing., Ph.D.
- spoluřešitel (01.01.2011 - 31.12.2014)

Útvary

Ústav mikroelektroniky
- příjemce (01.01.2011 - nezadáno)

Zdroje financování

Technologická agentura ČR - Program aplikovaného výzkumu a experimentálního vývoje ALFA
- plně financující (2011-01-01 - nezadáno)

Výsledky

BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M. Optimizing of PCBA cleaning process through process calibration tools. In EMPC 2013. 2013. Grenoble. France: IEEE, 2013. p. 1-3. ISBN: 978-2-9527467-1-7.
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; SZENDIUCH, I. Innovative procedures for the evaluation method of the efficiency in the cleaning process. In Electronics Technology (ISSE), 2015 38th International Spring Seminar. Eger, Hungary: IEEE, 2015. p. 288-291. ISBN: 978-963-313-177-0.
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.; SZENDIUCH, I. Analytic method for monitoring of cleaning process efficiency. In IEEE CONFERENCE PUBLICATIONS. Dresden, Německo: IEEE, 2014. s. 341-344. ISBN: 978-3-934142-49-7.
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně: Zařízení k nanášení mezivrstvy na skleněné testovací substráty určené k lepení čipů. 25052, užitný vzor. (2013)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Měřicí metoda pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečištěných tavidly. 305605, patent. (2015)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; VUT v Brně MEAS CZ, s.r.o.: Způsob vytváření mezivrstvy na skleněných testovacích substrátech, určené k lepení čipů, a nanášecí zařízení pro provádění tohoto způsobu. 304596, patent. (2014)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Dispenzer k označování skleněných nebo keramických testovacích desek určených pro náročné aplikace. 25177, užitný vzor. (2013)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ: Způsob označování skleněných nebo keramických testovacích desek určených pro náročné aplikace a dispenzer k jeho provádění. 304754, patent. (2014)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; Vysoké Učení Technické V Brně MEAS CZ, s.r.o.: Způsob vytváření mezivrstvy na skleněných testovacích substrátech určené k lepení čipů a nanášecí zařízení pro provádění tohoto způsobu. EP2746235, patent. (2017)
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.; Vysoké učení technické v Brně: Měřicí zařízení pro pořizování kontrolních snímků povrchů testovacích desek znečistěných tavidly. 25097, užitný vzor. (2013)
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.: Obloukový odparník; Přípravek pro optické vyhodnocení mycí kapaliny. VUT v Brně, Technická 3058/10, Laboratoř 0.63. (funkční vzorek)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; MUSIL, V.: Plasmový detektor bublin; Plazmový detektor bublin v ovrstvení. Technická 3058/10, Laboratoř 0.63. (funkční vzorek)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Vodivostní čidlo; Vodivostní čidlo. Technická 3058/10, Laboratoř 0.63. (funkční vzorek)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Zdrsňování pražců; Úprava povrchové vrstvy pro lepení čipů na skleněné testovací substráty. VUT, UMEL Technická 3058/10 61600 Brno laboratoř 0.63. (prototyp)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Značení substrátů; Značení skleněných a keramických substrátů určených pro náročné aplikace. VUT, UMEL Technická 3058/10 61600 Brno laboratoř 0.63. (ověřená technologie)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: Nastřelovač; Zařízení k nanášení mezivrstvy na skleněné testovací substráty určené k lepení čipů. VUT, UMEL Technická 3058/10 616 00 Brno laboratoř 0.63. (funkční vzorek)
Detail

ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.; BURŠÍK, M.; SZENDIUCH, I.: QCM; Držák QCM krystalu mikrováhy. VUT, UMEL Technická 3058/10 616 00 Brno laboratoř 0.63. (funkční vzorek)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Posklívání; Úprava povrchové vrstvy pro lepení čipů na skleněné testovací substráty. Technická 3058/10. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/poloprovozy/bursik-pp-uprava-povrchove-vrstvy-pro-lepen-cipu-na-sklenene-testovaci-substraty.pdf. (poloprovoz)
Detail

BURŠÍK, M.; ŘEZNÍČEK, M.; JANKOVSKÝ, J.: Značení skel; Značení skleněných a keramických substrátů určených pro náročné aplikace. Technická 3058/10, 61600 Brno Laboratoř 0.63. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/poloprovozy/bursik-pp-znaceni-sklenenych-a-keramickych-substratu-urcenych-pro-narocne-aplikace.pdf. (poloprovoz)
Detail

BURŠÍK, M.; JANKOVSKÝ, J.; ŘEZNÍČEK, M.: VYZKO - K01; Vyhodnocení zbytkové kontaminace substrátů. Technická 3058/10 Laboratoř 0.63. URL: http://www.umel.feec.vutbr.cz/vyzkum/vysledky/funkcni-vzorky/bursik-fv-vyhodnoceni-zbytkove-kontaminace-substratu.pdf. (funkční vzorek)
Detail