Detail projektu

Stanovení kvality a spolehlivosti tlustovrstvových rezistorů šumovou spektroskopií

Období řešení: 01.01.2001 — 31.12.2001

Zdroje financování

Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - KONTAKT

- plně financující

O projektu

Stanovení kvality a spolehlivosti tlustovrstvových rezistorů na základě experimentálního studia frekvenční závislosti šumové spektrální hustoty. Prognóza kvality a spolehlivosti založená na hodnotý šumové spektrální hustoty a nelinearity. Nelinearita volt-ampérové charakteristiky je hodnocena indexem třetí harmonicky přesný sinusového signálu o frekvenci 10 kHz. Vysoce spolehlivé tlustovrstvové odpory jsou projektovány pro aplikace v hybridních obvodech telekomunikací, medicíny a průmyslu

Označení

ME 244

Originální jazyk

čeština

Řešitelé

Šikula Josef, prof. Ing. RNDr., DrSc. - hlavní řešitel
Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc. - spoluřešitel
Pavelka Jan, doc. Mgr., CSc. Ph.D. - spoluřešitel

Útvary

Fakulta stavební
- odpovědné pracoviště (01.01.1989 - nezadáno)

Výsledky

ŠIKULA, J. Chybí název. In XI.mezinárodní vědecká konference VUT - sekce Aplikovaná fyz. Brno: Fakulta stavební VUT v Brně, 1999. p. 111 ( p.)ISBN: 80-214-143.
Detail

SADOVSKÝ, P., BARTUŠEK, K. Optimisation of the Transient Response of a Digital Filter. Radioengineering, 2000, vol. 9, no. 2, p. 14 ( p.)ISSN: 1210-2512.
Detail

ŠIKULA, J. Chybí název. In CARTS 99. Huntsville, USA: Components Technology Institute, Inc., 1999. p. 292 ( p.)ISBN: 80-01-0195.
Detail

ŠIKULA, J. Chybí název. In 15th Int. Conf. On Noise in Physical Systems and 1/f Fluctua. Hong Kong: The Hong Kong Polytechnic University, 1999. p. 150 ( p.)ISBN: 1-874612-2.
Detail

GRMELA, L., TOMÁNEK, P., KOKTAVÝ, P., PAVELKA, J., ŠIKULA, J. Noise spectroscopy of thick film electroluminescent lamp. In Electronics Devices and System. Brno: Vysoké učení technické v Brně, 2001. p. 44 ( p.)ISBN: 80-214-1960-1.
Detail

SEDLÁKOVÁ, V., MELKES, F., ŠIKULA, J., ROČAK, D., BELAVIČ, D., TACANO, M. Effect of Contact Electrode on Noise and Nonlinearity of Thick-Film Resistor. In Proc. of 16th Symp. CARTS Europe 2002. Nice, France: 2002. p. 171 ( p.)ISBN: 0887-7491.
Detail

SEDLÁKOVÁ, V., MELKES, F., ŠIKULA, J., DOBIS, P., ROČAK, D., BELAVIČ, D. Influence od Contact Electrode on Thick Film Resistors Noice and Nonlinerity. In Proc. of 38th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials. Lipica, Slonenia: 2002. p. 245 ( p.)ISBN: 961-91023-0-4.
Detail

SEDLÁKOVÁ, V. NDT of thick film resistors by noise spectroscopy. In Proceedings of 8th Conference STUDENT EEICT 2002. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2002. p. 244 ( p.)ISBN: 80-214-2115-0.
Detail

SEDLÁKOVÁ, V., PAVELKA, J., GRMELA, L., ŠIKULA, J., ROČAK, D., HROVAT, M., BELAVIČ, D. NOISE AND NON-LINEARITY OF THICK-FILM RESISTORS. In Proceedings of European Microelectronics packaging & interconection Symposium. Krakow, Poland: IMAPS - Poland Chapter, 2002. p. 320 ( p.)ISBN: 83-904462-8-6.
Detail

SEDLÁKOVÁ, V. NDT of thick film resistors by noise spectroscopy. In Proceedings of 8th ECNDT. Leganes, Madrid: Spanish Society for NDT AEND, 2002. p. 215 ( p.)ISBN: 84-699-8573-6.
Detail

SEDLÁKOVÁ, V. Noise Spectroscopy of Thick Film Resistors. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: ÚFYZ FEI VUT Brno, 2001. p. 117 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

SEDLÁKOVÁ, V.; PAVELKA, J.; ŠIKULA, J.; ROČAK, D.; HROVAT, M.; BELAVIČ, D. Low Frequency Noise and Third Harmonic Testing of Thick Film Resistors as Reliability Indicators. In Proceedings of the 16th International Conference Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations ICNF 2001. Gainesville, Florida, USA: World Scientific, 2001. p. 747 ( p.)ISBN: 981-02-4677-3.
Detail

ŠIKULA, J.; KOKTAVÝ, B.; PAVELKA, J.; ROČAK, D.; BELAVIČ, D.; TACANO, M. Low Frequency Noise of Thick Conducting Films. In Proc. of 15th Int. Conf. on Noise in Physical Systems and 1/f Fluctuations ICNF, Hong Kong August 1999, ed. C. Surya. Hong Kong: Bentham Press, 1999. p. 154-157. ISBN: 1-874612-28-5.
Detail

ROČAK, D.; BELAVIČ, D.; HROVAT, M.; ŠIKULA, J.; KOKTAVÝ, P.; PAVELKA, J.; SEDLÁKOVÁ, V. Low-Frequency Noise of Thick-Film Resistors as Quality and Reliability Indicator. Microelectronics Reliability, 2002, vol. 41, no. 4, p. 531-542. ISSN: 0026-2714.
Detail

ŠIKULA, J. Chybí název. In CARTS-EUROPE 99. East Sussex,England: ECII Ltd., 1999. p. 163 ( p.)ISBN: 80-01-0195.
Detail

Odpovědnost: Šikula Josef, prof. Ing. RNDr., DrSc.