Detail projektu

Polovodiče - lokální optické a elektrické vlastnosti

Období řešení: 31.08.2002 — 31.12.2004

O projektu

Polovodiče - lokální optické a elektrické vlastnosti: lokální topografie, lokální spektroskopie, měření fluorescence, konstrukce objemového STM a SNOM mikroskopu, výroba optických hrotů.

Popis anglicky
Semiconductors - local optical and electric properties: local topography, local spectroscopy and local fluorescence measurements, construction of bulky STM and SNOM, manufacture of optical fibre probes.

Klíčová slova
polovodiče, lokální fotoluminiscence, lokální fotoproud, proces stárnutí, diagnostika

Klíčová slova anglicky
semiconductor, local photoluminescence, local photocurrent, aging process

Označení

ME 544

Originální jazyk

čeština

Řešitelé

Tománek Pavel, prof. RNDr., CSc.
- hlavní řešitel (08.03.2002 - 31.12.2004)
Grmela Lubomír, prof. Ing., CSc.
- spoluřešitel (31.08.2002 - 31.12.2004)

Útvary

Ústav fyziky
- příjemce (08.03.2002 - 31.12.2004)

Zdroje financování

Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR - KONTAKT
- částečně financující (2002-08-31 - 2004-12-31)

Výsledky

TOMÁNEK, P., GRMELA, L., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Projekt "Fyzikální základy optoelektroniky". In Nové trendy ve fyzice. sv.2. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a informatiky, 2001. s. 536-539. ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L., UHDEOVÁ, N., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Optoelectronics and optical fiber sensors in engineering education. In CO-MAT-TECH 2001. sv.2. Bratislava: STU Bratislava, 2001. p. 390 ( p.)ISBN: 80-227-1591-3.
Detail

HRABOVSKÝ, M., SENDERÁKOVÁ, D., TOMÁNEK, P. Photonics, Devices, and Systems II. Photonics, Devices, and Systems II. Neuveden. Bellingham, WA, USA: 2003. p. 1 ( p.)ISBN: 0-8194-4837-0.
Detail

BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., TOMÁNEK, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near-field scanning optical microscopy of semiconductors. Nano´03. Brno: 2003. p. 51 ( p.)ISBN: 80-214-2486-9.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., UHDEOVÁ, N. Local photoluminescence measurements of semiconductor surface defects. Correlation optics 6. Neuveden. Chernivtsy: 2003. p. 56 ( p.)
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Near field photocurrent spectroscopy of crystalline GaAs solar cells. CO-MAt-TECH 2004. Proceedings of the Abstracts. Trnava: Vydavatelstvo STU Bratislava, 2004. p. 207 ( p.)ISBN: 80-227-2121-5.
Detail

TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J., DOBIS, P. Near-field local optical spectrosccopy of nanostructured semiconductors. Nano ´ 04. Brno: VUTIUM Brno, 2004. p. 40 ( p.)ISBN: 80-214-2672-1.
Detail

TOMÁNEK, P. Metamateriály - materiály se záporným indexem lomu. 4.seminář o metodách blízkého pole. Praha: Spektroskopická společnost Jana Marca Marci, 2004. s. 28 ( s.)
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., GRMELA, L. Near-field optical measurement of carrier recombination in InAs/GaAs quantum dots. Material structure & micromechanics of fracture. Brno: Vutium, Brno, 2004. p. 115 ( p.)ISBN: 80-214-26732-X.
Detail

TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti (Projekt ME 544). 2004. Brno: MŠMT-Kontakt 544, 2004. s. 1-19.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti, ME 544. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti - výzkumná zpráva. neuvedeno. Brno: MŠMT, 2002.
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., UHDEOVÁ, N. Nanometric applications of the Scanning Near-field optical microscopy. In Proceedings of the National Conference NANO´02. Brno: Česká společnost pro nové materiály a technologie, 2003. p. 166 ( p.)ISBN: 80-7329-027-8.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., DOBIS, P., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., KAWATA, S. Near-field optical imaging of carrier dynamics in silicon with superresolution. In Scanning Probe Microscopy - 2003. Nizhniy Novgorod, Russia: Institute for Physics of microstructures RAS, 2003. p. 63-65.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., TOMÁNEK, P. Singular Spectral Index Method for the Analysis of the Rib Waveguide. In Measurement 2003. Bratislava: 2003. p. 395 ( p.)ISBN: 80-967402-6-1.
Detail

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P., GRMELA, L. Near field scanning optical microscopy as an imaging tool for carrier process in silicon. In Advanced engineering design. Praha: Process Engineering Publisher, 2003. p. F1.3 (F1.7 p.)ISBN: 80-86059-35-9.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., GRMELA, L., DOBIS, P. Local optical imaging of electronic characteristics in semiconductors. In Noise and fluctuation ICNF 2003. Brno: 2003. p. 445 ( p.)ISBN: 80-239-1005-1.
Detail

DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L., TOMÁNEK, P. Electrooptical Characterization of ZnS:Mn Thin-film Electroluminescent Devices. In The 10th EDS 2003 Electronic Devices and Systems Conference. Neuveden. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc., 2003. p. 287 ( p.)ISBN: 80-2142452-4.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., LÉTAL, P. Optika a mikroskopie v blízkém poli. In 3.konference o Matematice a fyzice na vysokých školách technických. Neuveden. Brno: Vojenská akademie Brno, 2003. s. 20 ( s.)ISBN: 80-85960-51-6.
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L. 1/f Noise in InAs/GaAs Quantum Dots and InGaAs/GaAs/InGaP Quantum Well LEDs and in quantum well laser diodes. In CO-MAT-TECH 2003, 11th International scientific conference. Bratislava: MtF STU Trnava, 2003. p. 1063 ( p.)ISBN: 80-277-1949-8.
Detail

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Time-resolved contrast in near-field scanning optical microscopy of semiconductors. In Proceedings of International conference Nano´03. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta strojního inženýrství, 2003. p. 201 ( p.)ISBN: 80-214-2527-X.
Detail

MAJZNER, J., TOMÁNEK, P., GRMELA, L., BENEŠOVÁ, M. Critical role of near-field optics in the characterization of electro-optical devices. In Radioelektronika 2003 Conference proceedings. Brno: MJ Servis Ltd., 2003. p. 280 ( p.)ISBN: 80-214-2388-8.
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J. Comparison of low-frequency noise and near-field optical spectroscopy of GaAs/AlGaAs single-quantum-well laser diodes. In Atomically controlled surfaces, interfaces and nanostructures. Nara, Japan: Japan society of applied physics, 2003. p. 431 ( p.)
Detail

OTEVŘELOVÁ, D.; TOMÁNEK, P.; GRMELA, L. Local characterization of optical waveguide structure using Scanning near-field optical microscopy. In Applied physics on condensed matter APCOM – 2004. Bratislava: Slovak Technical University in Bratislava, 2004. p. 183-186. ISBN: 80-227-2073-9.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D. Facet Reflectivity of Waveguides Buried at Realistic Depth. In Student EEICT 2004. Brno: Ing. Zdeněk Novotný CSc., 2004. p. 665 ( p.)ISBN: 80-214-2636-5.
Detail

AHMED, M.; TOMÁNEK, P. Luminance-voltage and efficiency-voltage characterization of ZnS:Mn2+ alternating-current thin-film electroluminescent device. In Proceedings EDS' 04. Brno: Vysoké učeni technické v Brně, 2004. p. 76-79. ISBN: 80-214-2701-9.
Detail

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P. Designing nanostructures for new functional materials. In CO-MAT-TECH 2004, Proceeding of 12. International Scientific Conference. Trnava: MtF STU Bratislava, 2004. p. 91 ( p.)ISBN: 80-227-2117-4.
Detail

TOMÁNEK, P.; GRMELA, L. Near field photocurrent spectroscopy of crystalline GaAs solar cells. In CO-MAT-TECH 2004, Proceeding of 12. International Scientific Conference. Trnava: Vydavatelstvo STU Bratislava, 2004. p. 1365-1370. ISBN: 80-227-2117-4.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., BRÜSTLOVÁ, J. Direct evidence of negative refraction at media with negative epsilon and mju. In New trends in Physics. Brno: 2004. p. 266 ( p.)ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

BENEŠOVÁ, M., TOMÁNEK, P. Goos-Hänchen shifts at the interface between left- and right-handed materials. In New trends in Physics. Brno: Ing. Zdeněk Novotný, CSc. Ondráčkova 105, Brno, 2004. p. 210 ( p.)ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

KALA, J. SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY. In Workshop NDT 2004 NON-DESTRUCTIVE TESTING. Brno: Brno university of Technology, 2004. p. 75 ( p.)ISBN: 80-7204-371-4.
Detail

AHMED, M. Photo-induced charge and hole drift length measurement of evaporated ZnS:Mn alternating-current thin-film electroluminescent devices. In Elektortechnika a informatika 2004. Plzeň: Fakulta elektrotechnická, Zapadočeská univezita v Plzni, 2004. p. 63-66. ISBN: 80-7043-300-0.
Detail

AHMED, M. Subtreshold voltage-induced transferred charge aging analysis of alternating-current thin-film electroluminescent device. In New trends in Physics NTF 2004. Brno: Ing. Zdenek Novotny, CSc., 2004. p. 196-199. ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

AHMED, M. Photo-induced charge and luminescence measurements in ZnS:Mn2+ ACTFEL. In New trends in Physics NTF 2004. Brno: Ing. Zdenek Novotny, CSc., 2004. p. 200-203. ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D. Analysis Of Buried Waveguides For Mode Spot Converters. In Nové trendy ve fyzice NTF 2004. Brno: Ing. Zdeněk Novotný CSc., Ondráčkova 105, Brno, 2004. p. 254 ( p.)ISBN: 80-7355-024-5.
Detail

OTEVŘELOVÁ, D. Šíření optického signálu v 3D strukturách v těsné blízkosti rozhraní polovodič-vzduch. In Workshop NDT 2004 NON-DESTRUCTIVE TESTING. Brno: Brno University of Technology, 2004. s. 126 ( s.)ISBN: 80-7204-371-4.
Detail

TOMÁNEK, P., BENEŠOVÁ, M., OTEVŘELOVÁ, D., DOBIS, P. Scanning near-field optical microscopy and its application in semiconductor investigation. In Scanning probe microscopy 2004. Nizhny Novgorod: Institute for Physics of Microsctructures RAS, 2004. p. 108-111.
Detail

TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; OTEVŘELOVÁ, D.; GRMELA, L.; KAWATA, S. Near-field optical diagnostics of carrier dynamics in semiconductor with superresolution. Physics of low-dimensional structures, 2003, vol. 2003, no. 3/4, p. 131-137. ISSN: 0204-3467.
Detail

TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; DOBIS, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; UHDEOVÁ, N. Local photoluminescence measurements of semiconductor surface defects. Proceedings of SPIE, 2004, no. 5477, p. 131-137. ISSN: 0277-786X.
Detail

BENEŠOVÁ, M.; TOMÁNEK, P.; LIŠKA, M. Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 49, č. 9, s. 242-244. ISSN: 0447-6441.
Detail

TOMÁNEK, P.; BENEŠOVÁ, M.; OTEVŘELOVÁ, D.; DOBIS, P. Scanning near-field optical microscopy in semiconductor research. Physics of low-dimensional structures, 2004, vol. 2004, no. 1/2, p. 47-53. ISSN: 0204-3467.
Detail

LÉTAL, P., TOMÁNEK, P. Lokální optické vláknové sondy pro mikroskop pracující v blízkém poli. 2004, roč. 49, č. 6, s. 163 ( s.)ISSN: 0447-6411.
Detail

TOMÁNEK, P.; GRMELA, L. Local optical phenomena in InAs/GaAs heterostructures with quantum dots and artificial molecules. Journal of the Korean Physical Society, 2005, vol. 47, no. 96, p. S162 (S165 p.)ISSN: 0374-4884.
Detail

TOMÁNEK, P.; DOBIS, P.; BENEŠOVÁ, M.; GRMELA, L. Near-field study of carrier dynamics in InAs/GaAs quantum dots grown on InGaAs layers. Materials Science Forum, 2005, vol. 482, no. 1, p. 151-155. ISSN: 0255-5476.
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Polovodiče: lokální optické a elektrické vlastnosti. Brno: MŠMT-Kontakt 544, 2003. s. 1 ( s.)
Detail

Scanning Probe Microscopy - 2003. Nizhniy Novgorod (02.03.2003)
Detail

TOMÁNEK, P.: Optics in computing. St. Petersburg (15.10.2002)
Detail

TOMÁNEK, P., TOMÁNEK, P.: Photonics Prague 2002 - 4th Int.Conf. on Photonics, Devices and Systems. Praha (26.05.2002)
Detail

Slovak University of Technology: APCOM 2004. Častá-Píla (16.06.2004)
Detail

GRMELA, L., TOMÁNEK, P.: Near-field Nano Optics and Related Techniques (NFO-8). Seoul (05.09.2004)
Detail

SPIE Europe: Photonics Europe. Strasbourg (26.04.2004)
Detail

CO-MAT-TECH 2003. Trnava (16.10.2003)
Detail

ACSIN7 - Atomically Controlled Surfaces, Interfaces, Nanostructures. Nara (16.11.2003)
Detail

Measurement 2003. Smolenice (15.06.2003)
Detail

Institute of Physics of Microstructures RAS: Scanning Probe Microscopy 2004. Nizhny Novgorod (02.05.2004)
Detail