Detail předmětu
Principy syntézy testovatelných obvodů
FIT-PTDAk. rok: 2019/2020
Předmět poskytuje studentům aktuální informaci z oblasti testování číslicových obvodů a testovatelného návrhu. Zabývá se problémy z oblasti diagnostiky, s nimiž se setkává návrhář číslicových obvodů. Budou vysvětleny pojmy související s testovatelností číslicového obvodu (řiditelnost, pozorovatelnost) a metody jejího zlepšení. Pozornost bude zaměřena na metody strukturovaného návrhu, především LSSD, dále metody typu částečný scan. Bude pojednáno o principech autonomního testování a prvcích potřebných pro realizaci tohoto typu testu (generátory testovacích vektorů, příznakové analyzátory).
Okruhy otázek k SDZ:
1. Vývoj principů testování číslicových systémů.
2. Pojem řiditelnost / pozorovatelnost.
3. Metoda testovacích bodů - výhody / nevýhody.
4. Přehled metod scan.
5. Rozdíl mezi sériovými a paralelními metodami - výhody / nevýhody.
6. Metoda LSSD.
7. Metoda RAS / ARAS.
8. Metody částečný scan v. úplný scan.
9. Metoda Boundary scan.
10. Principy autonomního testování, uplatnění hierarchie.
11. Možnosti realizace autonomního testování, at-speed testing.
Jazyk výuky
Garant předmětu
Zajišťuje ústav
Doporučená literatura
M. Abramovici, M. A. Breuer, D. Friedman: Digital Systems Testing and Testable Design: Revised Printing, Computer Society Press, 1995, ISBN 0-7803-1062-4, 680 pp.
P. Michel, U. Lauther, P. Duzzy: The Synthesis Approach to Digital System Design, The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science, 1992, ISBN 0-7923-9199-3, 375 pp.
Zařazení předmětu ve studijních plánech
Typ (způsob) výuky
Přednáška
Vyučující / Lektor
Osnova
- Principy syntézy číslicových obvodů, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze číslicových obvodů.
- Testovatelnost číslicového obvodu, pojem řiditelnosti a pozorovatelnosti, míry testovatelnosti.
- Vývoj metod testování číslicových obvodů - vývoj principů zvyšování řiditelnosti/pozorovatelnosti vnitřních prvků obvodu.
- Technika testovacích bodů. Využití registru scan pro zvýšení řiditelnosti/pozorovatelnosti.
- Metody úplný scan: metody sériové (LSSD, Scan Path, Scan Set), metody paralelní (RAS, ARAS).
- Metody částečný scan. Syntéza obvodů s využitím metod úplný a částečný scan.
- Testování obvodů PLA, uplatnění principů testovatelnosti při syntéze obvodů PLA.
- Principy autonomního testování číslicových obvodů.
- Generování testovacích vektorů, komprese odezev.
- Architektura autonomně testovaných obvodů, uplatnění hierarchie při aplikaci autonomního testu.
- Techniky CSTP, BILBO.
- Konstrukce obvodů pro on-line testování
- Metoda Boundary Scan. Testování spojů.