Publication detail

Scanning near field optical local spectroscopy

LÉTAL, P. BRÜSTLOVÁ, J. DOBIS, P. GRMELA, L. TOMÁNEK, P.

Original Title

Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli

Czech Title

Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli

English Title

Scanning near field optical local spectroscopy

Type

journal article

Language

cs

Original Abstract

Článek popisuje použití rastrovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém optickém poli k určení lokálních spektroskopických charakteristik polovodičových rozhraní.

Czech abstract

Článek popisuje použití rastrovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém optickém poli k určení lokálních spektroskopických charakteristik polovodičových rozhraní.

English abstract

Using of Scanning optical near-field microscopy for the investigation of local spectroscopic chareacterists of semiconductor interfaces is described.

Keywords

Scanning microscopy, optical near-field, spectroscopy, local measurement

RIV year

1998

Released

17.09.1998

Pages from

215

Pages to

217

Pages count

3

BibTex


@article{BUT39014,
  author="Petr {Létal} and Jitka {Brüstlová} and Pavel {Dobis} and Lubomír {Grmela} and Pavel {Tománek}",
  title="Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli",
  annote="Článek popisuje použití rastrovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém optickém poli k určení lokálních spektroskopických charakteristik polovodičových rozhraní.",
  chapter="39014",
  journal="Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics",
  number="3",
  volume="5",
  year="1998",
  month="september",
  pages="215--217",
  type="journal article"
}