Detail publikace

Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli

LÉTAL, P. BRÜSTLOVÁ, J. DOBIS, P. GRMELA, L. TOMÁNEK, P.

Originální název

Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli

Český název

Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli

Anglický název

Scanning near field optical local spectroscopy

Typ

článek v časopise

Jazyk

cs

Originální abstrakt

Článek popisuje použití rastrovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém optickém poli k určení lokálních spektroskopických charakteristik polovodičových rozhraní.

Český abstrakt

Článek popisuje použití rastrovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém optickém poli k určení lokálních spektroskopických charakteristik polovodičových rozhraní.

Anglický abstrakt

Using of Scanning optical near-field microscopy for the investigation of local spectroscopic chareacterists of semiconductor interfaces is described.

Klíčová slova

Rastrovací mikroskopie, optické blízké pole, spektroskopie, lokální měření

Rok RIV

1998

Vydáno

17.09.1998

Strany od

215

Strany do

217

Strany počet

3

BibTex


@article{BUT39014,
  author="Petr {Létal} and Jitka {Brüstlová} and Pavel {Dobis} and Lubomír {Grmela} and Pavel {Tománek}",
  title="Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli",
  annote="Článek popisuje použití rastrovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém optickém poli k určení lokálních spektroskopických charakteristik polovodičových rozhraní.",
  chapter="39014",
  journal="Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics",
  number="3",
  volume="5",
  year="1998",
  month="september",
  pages="215--217",
  type="journal article"
}