Publication detail

Testování analogových obvodů

KINCL, Z.

Original Title

Testování analogových obvodů

Czech Title

Testování analogových obvodů

Language

cs

Original Abstract

V příspěvku jsou shrnuty základní teoretické předpoklady pro testování analogových obvodů metodou s více testovacími kmitočty. Volba vhodných testovacích kmitočtů je stěžejní podmínkou funkčnosti této metody a doposud nebyla pořádně objasněna. V příspěvku je dále demonstrováno jednoduché kritérium volby testovacích kmitočtů pro kmitočtové filtry typu pásmová propust.

Czech abstract

V příspěvku jsou shrnuty základní teoretické předpoklady pro testování analogových obvodů metodou s více testovacími kmitočty. Volba vhodných testovacích kmitočtů je stěžejní podmínkou funkčnosti této metody a doposud nebyla pořádně objasněna. V příspěvku je dále demonstrováno jednoduché kritérium volby testovacích kmitočtů pro kmitočtové filtry typu pásmová propust.

Documents

BibTex


@inproceedings{BUT35878,
  author="Zdeněk {Kincl}",
  title="Testování analogových obvodů",
  annote="V příspěvku jsou shrnuty základní teoretické předpoklady pro testování analogových obvodů metodou s více testovacími kmitočty. Volba vhodných testovacích kmitočtů je stěžejní podmínkou funkčnosti této metody a doposud nebyla pořádně objasněna. V příspěvku je dále demonstrováno jednoduché kritérium volby testovacích kmitočtů pro kmitočtové filtry typu pásmová propust.",
  address="Ústav radioelektroniky FEKT VUT",
  booktitle="Sborník příspěvků semináře k řešení projektu GD102/08/H027",
  chapter="35878",
  howpublished="print",
  institution="Ústav radioelektroniky FEKT VUT",
  year="2010",
  month="november",
  pages="105--108",
  publisher="Ústav radioelektroniky FEKT VUT",
  type="conference paper"
}