Publication detail

Testování analogových obvodů

KINCL, Z.

Original Title

Testování analogových obvodů

English Title

Testing analog circuits

Type

conference paper

Language

Czech

Original Abstract

V příspěvku jsou shrnuty základní teoretické předpoklady pro testování analogových obvodů metodou s více testovacími kmitočty. Volba vhodných testovacích kmitočtů je stěžejní podmínkou funkčnosti této metody a doposud nebyla pořádně objasněna. V příspěvku je dále demonstrováno jednoduché kritérium volby testovacích kmitočtů pro kmitočtové filtry typu pásmová propust.

English abstract

The paper discusses the basic theoretical assumptions of parametric fault analysis and the selection of an appropriate set of test frequencies in the multifrequency parametric fault diagnosis of band-pass filters.

Keywords

Poruchová analýza analogových obvodů, volba testovacích kmitočtů, T.E.I., kmitočtový filtr

Key words in English

Analog fault diagnosis, frequency set selection, test error index, frequency filter.

Authors

KINCL, Z.

RIV year

2010

Released

16. 11. 2010

Publisher

Ústav radioelektroniky FEKT VUT

Location

Brno

ISBN

978-80-214-4190-3

Book

Sborník příspěvků semináře k řešení projektu GD102/08/H027

Pages from

105

Pages to

108

Pages count

4

BibTex

@inproceedings{BUT35878,
  author="Zdeněk {Kincl}",
  title="Testování analogových obvodů",
  booktitle="Sborník příspěvků semináře k řešení projektu GD102/08/H027",
  year="2010",
  pages="105--108",
  publisher="Ústav radioelektroniky FEKT VUT",
  address="Brno",
  isbn="978-80-214-4190-3"
}