Detail publikace

Testování analogových obvodů

KINCL, Z.

Originální název

Testování analogových obvodů

Anglický název

Testing analog circuits

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

V příspěvku jsou shrnuty základní teoretické předpoklady pro testování analogových obvodů metodou s více testovacími kmitočty. Volba vhodných testovacích kmitočtů je stěžejní podmínkou funkčnosti této metody a doposud nebyla pořádně objasněna. V příspěvku je dále demonstrováno jednoduché kritérium volby testovacích kmitočtů pro kmitočtové filtry typu pásmová propust.

Anglický abstrakt

The paper discusses the basic theoretical assumptions of parametric fault analysis and the selection of an appropriate set of test frequencies in the multifrequency parametric fault diagnosis of band-pass filters.

Klíčová slova

Poruchová analýza analogových obvodů, volba testovacích kmitočtů, T.E.I., kmitočtový filtr

Klíčová slova v angličtině

Analog fault diagnosis, frequency set selection, test error index, frequency filter.

Autoři

KINCL, Z.

Rok RIV

2010

Vydáno

16. 11. 2010

Nakladatel

Ústav radioelektroniky FEKT VUT

Místo

Brno

ISBN

978-80-214-4190-3

Kniha

Sborník příspěvků semináře k řešení projektu GD102/08/H027

Strany od

105

Strany do

108

Strany počet

4

BibTex

@inproceedings{BUT35878,
  author="Zdeněk {Kincl}",
  title="Testování analogových obvodů",
  booktitle="Sborník příspěvků semináře k řešení projektu GD102/08/H027",
  year="2010",
  pages="105--108",
  publisher="Ústav radioelektroniky FEKT VUT",
  address="Brno",
  isbn="978-80-214-4190-3"
}