Detail publikace

Testování analogových obvodů

KINCL, Z.

Originální název

Testování analogových obvodů

Český název

Testování analogových obvodů

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

cs

Originální abstrakt

V příspěvku jsou shrnuty základní teoretické předpoklady pro testování analogových obvodů metodou s více testovacími kmitočty. Volba vhodných testovacích kmitočtů je stěžejní podmínkou funkčnosti této metody a doposud nebyla pořádně objasněna. V příspěvku je dále demonstrováno jednoduché kritérium volby testovacích kmitočtů pro kmitočtové filtry typu pásmová propust.

Český abstrakt

V příspěvku jsou shrnuty základní teoretické předpoklady pro testování analogových obvodů metodou s více testovacími kmitočty. Volba vhodných testovacích kmitočtů je stěžejní podmínkou funkčnosti této metody a doposud nebyla pořádně objasněna. V příspěvku je dále demonstrováno jednoduché kritérium volby testovacích kmitočtů pro kmitočtové filtry typu pásmová propust.

Klíčová slova

Poruchová analýza analogových obvodů, volba testovacích kmitočtů, T.E.I., kmitočtový filtr

Rok RIV

2010

Vydáno

16.11.2010

Nakladatel

Ústav radioelektroniky FEKT VUT

Místo

Brno

ISBN

978-80-214-4190-3

Kniha

Sborník příspěvků semináře k řešení projektu GD102/08/H027

Strany od

105

Strany do

108

Strany počet

4

BibTex


@inproceedings{BUT35878,
  author="Zdeněk {Kincl}",
  title="Testování analogových obvodů",
  annote="V příspěvku jsou shrnuty základní teoretické předpoklady pro testování analogových obvodů metodou s více testovacími kmitočty. Volba vhodných testovacích kmitočtů je stěžejní podmínkou funkčnosti této metody a doposud nebyla pořádně objasněna. V příspěvku je dále demonstrováno jednoduché kritérium volby testovacích kmitočtů pro kmitočtové filtry typu pásmová propust.",
  address="Ústav radioelektroniky FEKT VUT",
  booktitle="Sborník příspěvků semináře k řešení projektu GD102/08/H027",
  chapter="35878",
  howpublished="print",
  institution="Ústav radioelektroniky FEKT VUT",
  year="2010",
  month="november",
  pages="105--108",
  publisher="Ústav radioelektroniky FEKT VUT",
  type="conference paper"
}