This project was co-financed with state support of the CR Technological Agency as part of Programu na podporu aplikovaného výzkumu ZÉTA
www.tacr.cz
Research useful for society.

Project detail

Vývoj aplikací SPM vhodných pro korelativní mikroskopii

Duration: 01.01.2018 — 31.12.2019

Funding resources

Technologická agentura ČR - Program na podporu aplikovaného výzkumu ZÉTA

- whole funder (2018-01-10 - 2019-12-31)

On the project

Projekt je zaměřen na rozšíření spolupráce CEITEC VUT skupiny Příprava a charakterizace nanostruktur a spin-off firmy NenoVision do oblasti aplikovaného výzkumu aplikací využívajících novou techniku korelativního měření CPEM (Correlative Probe and Electron Microscopy). Technologie vyvinutá NenoVision využívá dvou typů standardních nástrojů analýzy, a to skenovací sondové mikroskopie (SPM) a elektronové mikroskopie (SEM) a je využívána pro charakterizaci povrchu vzorků v oblasti nanotechnologií, polovodičového průmyslu, solárních článků a materiálových věd.

Keywords
AFM, SPM, SEM, korelativní zobrazování, nanotechnologie, charakterizace povrchu

Mark

TJ01000434

Default language

Czech

People responsible

Hegrová Veronika - fellow researcher
Majerová Irena, Ing. - fellow researcher
Spousta Jiří, prof. RNDr., Ph.D. - fellow researcher
Konečný Martin, Ing., Ph.D. - principal person responsible

Units

Fabrication and Characteris. of Nanostr.
- (2017-05-05 - not assigned)

Results

KONEČNÝ, M. Seznam a popis vybraných aplikací a vzorků pro další testování. 2019.
Detail

NOVOTNÁ, V., HORÁK, J., KONEČNÝ, M., HEGROVÁ, V., NOVOTNÝ, O., NOVÁČEK, Z., NEUMAN, J. AFM-in-SEM as a Tool for Comprehensive Sample Surface Analysis. Microscopy Today, 2020, vol. 28, no. 3, p. 38-46. ISSN: 2150-3583.
Detail

SOBOLA, D.; RAMAZANOV, S.; KONEČNÝ, M.; ORUDZHEV, F.; KASPAR, P.; PAPEŽ, N.; KNÁPEK, A.; POTOČEK, M. Complementary SEM-AFM of Swelling Bi-Fe-O Film on HOPG Substrate. Materials, 2020, vol. 13, no. 1, p. 1-15. ISSN: 1996-1944.
Detail

Responsibility: Konečný Martin, Ing., Ph.D.