Detail publikace

A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers

ZMEŠKAL, O. SALYK, O. VESELÝ, M. DZIK, P.

Originální název

A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers

Anglický název

A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers

Jazyk

en

Originální abstrakt

This paper deals with the utilization of optical and interference microscopy for the study of thin film layers.

Anglický abstrakt

This paper deals with the utilization of optical and interference microscopy for the study of thin film layers.

Dokumenty

BibTex


@article{BUT46783,
  author="Oldřich {Zmeškal} and Ota {Salyk} and Michal {Veselý} and Petr {Dzik}",
  title="A study on the thickness homogeneity and refractive index of thin organic layers",
  annote="This paper deals with the utilization of optical and interference microscopy for the study of thin film layers.",
  address="Asociace českých chemických společností",
  chapter="46783",
  institution="Asociace českých chemických společností",
  journal="Chemické listy",
  number="S",
  volume="102",
  year="2008",
  month="september",
  pages="s1033--s1036",
  publisher="Asociace českých chemických společností",
  type="journal article - other"
}