Detail publikace

Využití metody QCB v elektrochromismu

P. Špičák , V. Svoboda , M. Sedlaříková , J. Vondrák , J. Kazelle

Originální název

Využití metody QCB v elektrochromismu

Český název

Využití metody QCB v elektrochromismu

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

cs

Originální abstrakt

Tlouštku vrstvy materiálu na elektrodě lze měřit pomocí QCB. Tato metoda je založena na změně rezonanční frekvence křemenného krystalového rezonátoru. Nějčastěji se používá výbrus s rezonanční frekvencí 5 MHz. Změny rezonanční frekvence potom odpovídají změně tloušky vrstvy na elektrodě.

Český abstrakt

Tlouštku vrstvy materiálu na elektrodě lze měřit pomocí QCB. Tato metoda je založena na změně rezonanční frekvence křemenného krystalového rezonátoru. Nějčastěji se používá výbrus s rezonanční frekvencí 5 MHz. Změny rezonanční frekvence potom odpovídají změně tloušky vrstvy na elektrodě.

Rok RIV

2006

Vydáno

15.09.2006

Místo

Plzeň

ISBN

80-7043-474-0

Kniha

Elektrotechnika a informatika 2006

Strany od

83

Strany do

86

Strany počet

4

BibTex


@inproceedings{BUT24799,
  author="Petr {Špičák} and Vít {Svoboda} and Marie {Sedlaříková} and Jiří {Vondrák} and Jiří {Kazelle}",
  title="Využití metody QCB v elektrochromismu",
  annote="Tlouštku vrstvy materiálu na elektrodě lze měřit pomocí QCB. Tato metoda je založena na změně rezonanční frekvence křemenného krystalového rezonátoru. Nějčastěji se používá výbrus s rezonanční frekvencí 5 MHz. Změny rezonanční frekvence potom odpovídají změně tloušky vrstvy na elektrodě.",
  booktitle="Elektrotechnika a informatika 2006",
  chapter="24799",
  year="2006",
  month="september",
  pages="83",
  type="conference paper"
}