Detail publikace

Nanotechnologie a optická nanometrologie

TOMÁNEK, P.

Originální název

Nanotechnologie a optická nanometrologie

Anglický název

Nanotechnology and optical nanometrology

Typ

kniha odborná

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Nanovědy ležící na pomezí mezi fyzikou, chemií, biologií se stávají důležitou součástí budoucího vývoje vědy a techniky. Týkají se materiálů, které v nanometrických rozměrech vykazují překvapující nové vlastnosti. Studiu a rozvoji těchto výrobních a měřicích metod je věnována tato publikaci.

Anglický abstrakt

Nanoscience on the interface betweem physics, chemistry and biology is becoming an important part of future science and technology development. It is concerned with materials which structures exhibit novel properties. The book deals with the study and development of these fabrication and measuring methods.

Klíčová slova

nanotechnologie, optická nanometrologie, rastrovací silový mikroskop, teorie blízkého pole, superrozlišení, vnitřní fotoemise, charakteristika sond, nanolitografie, tloušťka tenké vrstvy

Klíčová slova v angličtině

nanotechnology, optical nanometrology, scanning force microscopy, theory of the near-field, superresolution, internal photoemission, characterization of probes, nanolithography, thin film thickness

Autoři

TOMÁNEK, P.

Rok RIV

2001

Vydáno

1. 4. 2000

Nakladatel

VUTIUM

Místo

Brno

ISBN

80-214-1589-4

Edice

Habilitační a inaugurační spisy, sv. 24

Strany počet

21

BibTex

@book{BUT61261,
  author="Pavel {Tománek}",
  title="Nanotechnologie a optická nanometrologie",
  year="2000",
  publisher="VUTIUM",
  address="Brno",
  series="Habilitační a inaugurační spisy, sv. 24",
  pages="21",
  isbn="80-214-1589-4"
}