Přístupnostní navigace
E-přihláška
Vyhledávání Vyhledat Zavřít
Detail publikace
OHLÍDAL, M., OHLÍDAL, I., FRANTA, D., ČUDEK, V.
Originální název
New method for the complete analysis of thin films non-uniform in optical parameters
Typ
abstrakt
Jazyk
angličtina
Originální abstrakt
New method enabling us to perform the complete optical analysis of non-absorbing and weakly absorbing thin films non-uniform in thickness and optical constants is presented. This method is based on interpreting the spectral dependences of the reflectance measured for a sufficient number of points forming a matrix in the mean planes of the boundaries of the film analyzed.
Klíčová slova v angličtině
Thin films, spectral reflectance
Autoři
Vydáno
1. 10. 2002
Nakladatel
The University of Tokyo, JApan
Místo
Tokyo
Strany od
181
Strany do
Strany počet
1
BibTex
@misc{BUT60151, author="Miloslav {Ohlídal} and Ivan {Ohlídal} and Daniel {Franta} and Vladimír {Čudek}", title="New method for the complete analysis of thin films non-uniform in optical parameters", booktitle="Asia-Pacific Surface & Interface Analysis Conference", year="2002", pages="1", publisher="The University of Tokyo, JApan", address="Tokyo", note="abstract" }