Detail publikace

Lokální měření teplotní závislosti světla emitovaného monokrystalického křemíkového solárního článku zapojeného v závěrném směru

GRMELA, L. ŠKARVADA, P. TOMÁNEK, P. MACKŮ, R. SMITH, S.

Originální název

Local investigation of thermal dependence of light emission from reverse-biased monocrystalline silicon solar cells

Český název

Lokální měření teplotní závislosti světla emitovaného monokrystalického křemíkového solárního článku zapojeného v závěrném směru

Anglický název

Local investigation of thermal dependence of light emission from reverse-biased monocrystalline silicon solar cells

Typ

článek v časopise

Jazyk

en

Originální abstrakt

The quality and lifetime of solar cells depends critically on both bulk and surface imperfections. When a solar cell is reverse-biased with low voltage, weak emission from imperfections appears. A scanning measurement using a high sensitivity light detection technique utilizing Scanning near-field optical microscope with cooled PMT in the photon counting regime allows non-destructive detection and localization of light-emitting centers originating from imperfections in the cell. We have found that the emission from these imperfections exhibits unique thermal characteristics. As consequence, the thermal characteristics can distinguish among several kinds of imperfections in monocrystalline silicon solar cells.

Český abstrakt

Kvalita a životnost solárních článků značně závisejí na vadách v objemu i povrchu článku. Když je solární článek zapojen v závěrném směru s malým napětím, objevuje se slabá emise z nedokonalostí. Metoda využívající kombinaci vysoce citlivé detekce se skenováním pomocí SNOM mikroskopu umožní nedestruktivní detekci a lokalizaci center vyzařujících světlo, které se nacházejí na nedokonalostech článku. Nalezli jsme, že tyto nedokonalosti vykazující jedinečné termální charakteristiky, které umožní rozlišit několik druhů nedokonalostí v solární článku z monokrystalického křemíku.

Anglický abstrakt

The quality and lifetime of solar cells depends critically on both bulk and surface imperfections. When a solar cell is reverse-biased with low voltage, weak emission from imperfections appears. A scanning measurement using a high sensitivity light detection technique utilizing Scanning near-field optical microscope with cooled PMT in the photon counting regime allows non-destructive detection and localization of light-emitting centers originating from imperfections in the cell. We have found that the emission from these imperfections exhibits unique thermal characteristics. As consequence, the thermal characteristics can distinguish among several kinds of imperfections in monocrystalline silicon solar cells.

Klíčová slova

křemíkový solární článek, teplotní charakteristiky, lokální měření, vysoké rozlišení

Rok RIV

2012

Vydáno

22.01.2012

Nakladatel

Elsevier

Místo

North-Holland

Strany od

108

Strany do

111

Strany počet

4

BibTex


@article{BUT49824,
  author="Lubomír {Grmela} and Pavel {Škarvada} and Pavel {Tománek} and Robert {Macků} and Steve J. {Smith}",
  title="Local investigation of thermal dependence of light emission from reverse-biased monocrystalline silicon solar cells",
  annote="The quality and lifetime of solar cells depends critically on both bulk and surface imperfections. When a solar cell is reverse-biased with low voltage, weak emission from imperfections appears. A scanning measurement using a high sensitivity light detection technique utilizing Scanning near-field optical microscope with cooled PMT in the photon counting regime allows non-destructive detection and localization of light-emitting centers originating from imperfections in the cell. We have found that the
emission from these imperfections exhibits unique thermal characteristics. As consequence, the thermal characteristics can distinguish among several kinds of imperfections in monocrystalline silicon solar cells.",
  address="Elsevier",
  chapter="49824",
  institution="Elsevier",
  number="1",
  volume="96",
  year="2012",
  month="january",
  pages="108--111",
  publisher="Elsevier",
  type="journal article"
}