Detail publikace

Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie

BOUCHAL, P. DVOŘÁK, P. BABOCKÝ, J. BOUCHAL, Z. LIGMAJER, F. HRTOŇ, M. KŘÁPEK, V. FAßBENDER, A. LINDEN, S. CHMELÍK, R. ŠIKOLA, T.

Originální název

Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie

Český název

Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

cs

Originální abstrakt

Článek popisuje novou metodu nekoherentní holografické mikroskopie založenou na využití moderních optických prvků pracujících na principu geometrické (Pancharatnam-Berryho) fáze. Metoda kombinuje výhody achromatické mimoosové holografie a robustní jednocestné interferometrie a umožňuje kvantitativně rekonstruovat retardaci vnesenou mezi ortogonální polarizační stavy. Těchto vlastností lze s výhodou využít ke studiu amplitudové a fázové odezvy plazmonických metapovrchů. Vysoká přesnost měření fáze plazmonických metapovrchů byla ověřena pomocí kalibračního metapovrchu a dále testovaná při zobrazení metapovrchové mřížky s frekvencí 833 čar/mm a vírových metapovrchů. Díky vysoké citlivosti použité metody jsme prokázali možnost kvantitativního měření fázové odezvy metapovrchů až na úrovni jejich jednotlivých stavebních bloků a to při zachování přesnosti měření pod 0,15 radiánu.

Český abstrakt

Článek popisuje novou metodu nekoherentní holografické mikroskopie založenou na využití moderních optických prvků pracujících na principu geometrické (Pancharatnam-Berryho) fáze. Metoda kombinuje výhody achromatické mimoosové holografie a robustní jednocestné interferometrie a umožňuje kvantitativně rekonstruovat retardaci vnesenou mezi ortogonální polarizační stavy. Těchto vlastností lze s výhodou využít ke studiu amplitudové a fázové odezvy plazmonických metapovrchů. Vysoká přesnost měření fáze plazmonických metapovrchů byla ověřena pomocí kalibračního metapovrchu a dále testovaná při zobrazení metapovrchové mřížky s frekvencí 833 čar/mm a vírových metapovrchů. Díky vysoké citlivosti použité metody jsme prokázali možnost kvantitativního měření fázové odezvy metapovrchů až na úrovni jejich jednotlivých stavebních bloků a to při zachování přesnosti měření pod 0,15 radiánu.

Klíčová slova

digitální holografická mikroskopie, kvantitativní fázové zobrazení, plazmonické metapovrchy, geometrická fáze

Vydáno

01.04.2019

Strany od

95

Strany do

98

Strany počet

4

URL

BibTex


@article{BUT159345,
  author="Petr {Bouchal} and Petr {Dvořák} and Jiří {Babocký} and Zdeněk {Bouchal} and Filip {Ligmajer} and Martin {Hrtoň} and Vlastimil {Křápek} and Alexander {Faßbender} and Stefan {Linden} and Radim {Chmelík} and Tomáš {Šikola}",
  title="Kvantitativní fázové měření plazmonických metapovrchů pomocí geometricko-fázové holografické mikroskopie",
  annote="Článek popisuje novou metodu nekoherentní holografické mikroskopie založenou na využití moderních optických prvků pracujících na principu geometrické (Pancharatnam-Berryho) fáze. Metoda kombinuje výhody achromatické mimoosové holografie a robustní jednocestné interferometrie a umožňuje kvantitativně rekonstruovat retardaci vnesenou mezi ortogonální polarizační stavy. Těchto vlastností lze s výhodou využít ke studiu amplitudové a fázové odezvy plazmonických metapovrchů. Vysoká přesnost měření fáze plazmonických metapovrchů byla ověřena pomocí kalibračního metapovrchu a dále testovaná při zobrazení metapovrchové mřížky s frekvencí 833 čar/mm a vírových metapovrchů. Díky vysoké citlivosti použité metody jsme prokázali možnost kvantitativního měření fázové odezvy metapovrchů až na úrovni jejich jednotlivých stavebních bloků a to při zachování přesnosti měření pod 0,15 radiánu.",
  chapter="159345",
  howpublished="print",
  number="4",
  volume="64",
  year="2019",
  month="april",
  pages="95--98",
  type="journal article - other"
}