Detail produktu

Program pro automatizovanou pro lokalizaci prasklin zatížených tranzistorových buněk

GÖTTHANS, T. DŘÍNOVSKÝ, J. PETRŽELA, J. ŠOTNER, R. KRATOCHVÍL, T.

Typ produktu

software

Abstrakt

Program vznikl v prostredí LABVIEW. Primárne je urcen k merení výkonových MOS tranzistorových bunek poskytnutý spolecností ONN Belgium. Program ovládá pres GPIB, Ethernet, PCI-e a USB generátor pulzu (s nastavitelným napetím, strídou, polaritou), dále cítac pulzu, dva napetové zdroje, vysokorychlostní akvizicní jednotku a HD kameru pripojenou k mikroskopu. Program namerená data zaznamenává do souboru Excel pro následnou analýzu. Kvalita obrazu z kamery je vylepšena zprumerováním 100 obrazu.

Klíčová slova

Labview, praskliny, power cell,

Datum vzniku

11.11.2015

Umístění

Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12

Možnosti využití

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Licenční poplatek

Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

www