Product detail

Program pro automatizovanou pro lokalizaci prasklin zatížených tranzistorových buněk

GÖTTHANS, T. DŘÍNOVSKÝ, J. PETRŽELA, J. ŠOTNER, R. KRATOCHVÍL, T.

Product type

software

Abstract

Program vznikl v prostredí LABVIEW. Primárne je urcen k merení výkonových MOS tranzistorových bunek poskytnutý spolecností ONN Belgium. Program ovládá pres GPIB, Ethernet, PCI-e a USB generátor pulzu (s nastavitelným napetím, strídou, polaritou), dále cítac pulzu, dva napetové zdroje, vysokorychlostní akvizicní jednotku a HD kameru pripojenou k mikroskopu. Program namerená data zaznamenává do souboru Excel pro následnou analýzu. Kvalita obrazu z kamery je vylepšena zprumerováním 100 obrazu.

Keywords

Labview, praskliny, power cell,

Create date

11. 11. 2015

Location

Ústav Radioelektroniky, FEKT VUT v Brně, Technická 3082/12

Possibilities of use

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Licence fee

Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

www

http://www.urel.feec.vutbr.cz/web_documents/software/2015/Gotthans_NANOCOPS_SW_CZ.pdf