Detail projektu

Profilování povrchů pomocí holografické konfokální mikroskopie

Období řešení: 01.09.1998 — 31.08.2001

Označení

GA202/98/P285

Originální jazyk

čeština

Řešitelé

Chmelík Radim, prof. RNDr., Ph.D.
- hlavní řešitel (01.09.1998 - 31.08.2001)

Útvary

Fakulta strojního inženýrství
- příjemce (01.01.1980 - nezadáno)

Zdroje financování

Grantová agentura České republiky - Standardní projekty
- plně financující

Výsledky

CHMELÍK, R., HARNA, Z. Three-Dimensional Theory of Phase Imaging in a Holographic Confocal Microscopy. In Focus on Microscopy 2000. Shirahama, Japan: Society for Laser Microscopy, Japan, 2000. p. 65 ( p.)
Detail

CHMELÍK, R., HARNA, Z., MATOUŠEK, M. Holographic Confocal Microscopy. In Focus on Microscopy 1999. Heidelberg: EMBL, Heidelberg, Germany, 1999. p. 93 ( p.)
Detail

CHMELÍK, R. Holographic confocal microscopy. In Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics. Bellingham: SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2001. p. 118 ( p.)ISBN: 0-8194-4047.
Detail

CHMELÍK, R., HARNA, Z. Parallel-Mode Confocal Microscopy. Optical Engineering, 1999, vol. 38, no. 10, p. 1635 ( p.)ISSN: 0091-3286.
Detail

CHMELÍK, R., HARNA, Z., MACHÁLEK, M., MATOUŠEK, M. Závislost osové odezvy holografického konfokálního mikroskopu na spektrální hustotě osvětlení. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 127 ( s.)ISSN: 0447-6441.
Detail

CHMELÍK, R. Holographic confocal microscopy. Proceedings of SPIE, 2001, vol. 4356, no. 1, p. 118 ( p.)ISSN: 0277-786X.
Detail

CHMELÍK, R., HARNA, Z. Surface profilometry by a parallel-mode confocal microscope. Optical Engineering, 2002, vol. 41, no. 4, p. 744 ( p.)ISSN: 0091-3286.
Detail

CHMELÍK, R., HARNA, Z. Holografická konfokální mikroskopie– zdokonalená metoda optického studia povrchů. NDT Welding Bulletin, 2001, roč. 11, č. 3, s. 27 ( s.)ISSN: 1213-3825.
Detail

CHMELÍK, R., HARNA, Z. Přenos prostorových frekvencí holografickým konfokálním mikroskopem. Jemná mechanika a optika, 1999, roč. 44, č. 11-12, s. 348 ( s.)ISSN: 0447-6441.
Detail

Focus on Microscopy 2000. Shirahama (09.04.2000)
Detail

Focus on Microscopy 1999. Heidelberg (11.04.1999)
Detail