Detail projektu

Correlative probe and electron microscopy imaging of threading dislocations in III-nitrides

Období řešení: 01.03.2017 — 28.02.2018

Zdroje financování

Vysoké učení technické v Brně - Vnitřní projekty VUT

- plně financující (2017-01-01 - 2018-12-31)

O projektu

Correlative imaging is an emerging paradigm which allows simultaneous capture of surface signals from two different probes - typically surface topography from AFM and the complementary signal from SEM. The main obstacle is the widely disparate resolution of both methods (approx. 1 nm for AFM but 100 nm for cathodoluminescence imaging). In this project, we will develop a new approach to correlative imaging of threading dislocations in III-nitride semiconductors, which will provide detailed information about the structure and optical activity of these defects.

Označení

STI-J-17-4388

Originální jazyk

čeština

Řešitelé

Vacek Petr, Ing., Ph.D. - hlavní řešitel
Gröger Roman, doc. Ing., Ph.D. et Ph.D. - spoluřešitel

Útvary

Středoevropský technologický institut VUT
- příjemce (01.01.2017 - 31.12.2017)

Výsledky

VACEK, P.; KOSTELNÍK, P.; GRÖGER, R. Correlation of Structure and EBIC Contrast from Threading Dislocations in AlN/Si Films. PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS, 2019, vol. 256, no. 11, p. 1900279-1900279. ISSN: 0370-1972.
Detail

Odpovědnost: Vacek Petr, Ing., Ph.D.