Detail předmětu

X-ray structure analysis methods

CEITEC VUT-DS206AAk. rok: 2020/2021

Jazyk výuky

angličtina

Počet kreditů

0

Zajišťuje ústav

Přírodovědecká fakulta (PřF MU)

Osnovy výuky

1. Krystalografie a strukturní analýza
2. Teorie difrakce
3. Zdroje rentgenového záření
4. Metody práškové a monokrystalické
5. Návrh experimentů
6. Analýza pevných a práškových typů objektu
7. Strukturní analýza tenkých vrstev
8. SAXS

Základní literatura

C. Suryanarayana, M. G. Norton,X-Ray Diffraction (Springer 1998)
Y. Waseda, et. al., X-Ray Diffraction Crystallography: Introduction, Examples and Solved Problems, 2011
B.Fultz, J.M.Howe, Transm. Electron Microscopy and Difractometry of Materials(Springer 2001)

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program STIAMN doktorský

    obor AM , 1. ročník, letní semestr, povinně volitelný
    obor ANTMT , 1. ročník, letní semestr, povinně volitelný