Detail předmětu

Metody rentgenové strukturní analýzy

CEITEC VUT-DS206Ak. rok: 2019/2020

Jazyk výuky

čeština

Garant předmětu

doc. RNDr. Petr Mikulík, Ph.D.

Zajišťuje ústav

Přírodovědecká fakulta (PřF MU)

Osnovy výuky

1. Krystalografie a strukturní analýza
2. Teorie difrakce
3. Zdroje rentgenového záření
4. Metody práškové a monokrystalické
5. Návrh experimentů
6. Analýza pevných a práškových typů objektu
7. Strukturní analýza tenkých vrstev
8. SAXS

Základní literatura

B.Fultz, J.M.Howe, Transm. Electron Microscopy and Difractometry of Materials(Springer 2001)
C. Suryanarayana, M. G. Norton,X-Ray Diffraction (Springer 1998)
Y. Waseda, et. al., X-Ray Diffraction Crystallography: Introduction, Examples and Solved Problems, 2011

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program STIPMN doktorský

    obor PM , 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný
    obor PM , 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

  • Program STIAMN doktorský

    obor AM , 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný
    obor ANTMT , 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

  • Program STIPMN doktorský

    obor PM , 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný
    obor PNTMT , 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

  • Program STIPMNK doktorský

    obor PM , 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

  • Program STIPMN doktorský

    obor PM , 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný
    obor PNTMT , 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

  • Program STIPMNK doktorský

    obor PM , 2 ročník, zimní semestr, povinně volitelný

  • Program STIAMNC doktorský

    obor AM , 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný
    obor ANTMT , 1 ročník, zimní semestr, povinně volitelný