Detail předmětu

Electron microscopy methods

CEITEC VUT-DS205AAk. rok: 2013/2014

Jazyk výuky

angličtina

Počet kreditů

0

Garant předmětu

prof. Mgr. Tomáš Kruml, CSc.

Zajišťuje ústav

Středoevropský technologický institut VUT (CEITEC VUT)

Základní literatura

J.I.Goldstein et al. Scanning electron microscopy and X-Ray Microanalysis(second ed. 1992)
J.Zhang-HR TEM and EELS studies of nanoscaled structured electronic materials,ProQuest 2007

Zařazení předmětu ve studijních plánech

  • Program STIAMN doktorský

    obor AM , 1. ročník, zimní semestr, povinně volitelný