Publication detail

Solar cell shunt characterization via microscale light induced current

ŠKARVADA, P. TOMÁNEK, P. KOKTAVÝ, P.

Original Title

Solar cell shunt characterization via microscale light induced current

English Title

Solar cell shunt characterization via microscale light induced current

Type

conference paper

Language

en

Original Abstract

Cílem této práce je experimentální porovnání více druhů defektů v mikroskopickém měřítku, které emitují světlo při závěrné polarizaci vzorku. K tomuto účelu je použit skenovací optický mikroskop v blízkém poli umožňující měřit laserm indukovaný proud ve vysokém prostorovém rozlišení spolčeně s topografií povrchu vzorku a emisí světla. Některé defekty jsou pozorovatelné v morfologii povrchu, jiné s využitím indukovaného proudu a některé pouze lokalizovatelné skrze emisi světla. Velikost všech zkoumaných nehomogenit je v řádů jednotek až desítek mikrometrů.

English abstract

Cílem této práce je experimentální porovnání více druhů defektů v mikroskopickém měřítku, které emitují světlo při závěrné polarizaci vzorku. K tomuto účelu je použit skenovací optický mikroskop v blízkém poli umožňující měřit laserm indukovaný proud ve vysokém prostorovém rozlišení spolčeně s topografií povrchu vzorku a emisí světla. Některé defekty jsou pozorovatelné v morfologii povrchu, jiné s využitím indukovaného proudu a některé pouze lokalizovatelné skrze emisi světla. Velikost všech zkoumaných nehomogenit je v řádů jednotek až desítek mikrometrů.

Keywords

Solar cells, shunt characterization, near-field laser induced current

RIV year

2011

Released

22.06.2012

Publisher

VUT Brno

Location

Brno

ISBN

978-80-214-4303-7

Book

IMAPS CS International Conference 2011 Proceedings

Edition

1

Pages from

95

Pages to

99

Pages count

5

BibTex


@inproceedings{BUT72386,
  author="Pavel {Škarvada} and Pavel {Tománek} and Pavel {Koktavý}",
  title="Solar cell shunt characterization via microscale light induced current",
  annote="Cílem této práce je experimentální porovnání více druhů defektů v mikroskopickém měřítku, které emitují světlo při závěrné polarizaci vzorku. K tomuto účelu je použit skenovací optický mikroskop v blízkém poli umožňující měřit laserm indukovaný proud ve vysokém prostorovém rozlišení spolčeně s topografií povrchu vzorku a emisí světla. Některé defekty jsou pozorovatelné v morfologii povrchu, jiné s využitím indukovaného proudu a některé pouze lokalizovatelné skrze emisi světla. Velikost všech zkoumaných nehomogenit je v řádů jednotek až desítek mikrometrů.",
  address="VUT Brno",
  booktitle="IMAPS CS International Conference 2011 Proceedings",
  chapter="72386",
  edition="1",
  howpublished="print",
  institution="VUT Brno",
  year="2012",
  month="june",
  pages="95--99",
  publisher="VUT Brno",
  type="conference paper"
}