Publication detail

Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků

VANĚK, J.

Original Title

Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků

English Title

Using of transport and noise characteristic in the testing of photovoltaic cells

Type

journal article - other

Language

Czech

Original Abstract

viz anotace v angličtině

English abstract

One of the method used in diagnostic and prediction of silicon solar cell reliability is based on the noise measurements of the cell or test structures. Where the faileres of the cell device in the beginning of opereting life are influeced by defects which are the results of rough errors in the manufacturing processes and these components can be removed during screening steps.

Key words in English

solar cell, photovoltaics, diagnostic, noise, semiconductor, PN junction,U-I characteristics, U-C characteristics, contact noise, thermal noise, 1/f noise, simulation, thermografie

Authors

VANĚK, J.

Released

28. 1. 2003

Location

Brno

ISBN

80-214-2351-X

Edition

Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně

Edition number

1

ISBN

1213-4198

Periodical

Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice PhD Thesis

Year of study

177

Number

3

State

Czech Republic

Pages from

1

Pages to

26

Pages count

26

URL

Ústav elektrotechnologie FEKT VUT v Brně

BibTex

@article{BUT41567,
  author="Jiří {Vaněk}",
  title="Využití transportních a šumových charakteristik pro testování kvality fotovoltaických článků",
  journal="Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně 
Edice PhD Thesis",
  year="2003",
  volume="177",
  number="3",
  pages="26",
  issn="1213-4198",
  url="Ústav elektrotechnologie FEKT VUT v Brně"
}