Publication detail

ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE

Original Title

ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE

Czech Title

ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE

Language

cs

Original Abstract

Vznik šumu mikroplazmy je podmíněn nedokonalostmi krystalické mřížky PN přechodu. Oblasti těchto defektů se mohou vyznačovat nižší hodnotou průrazného napětí v závěrném stavu než zbytek PN přechodu. Při dosažení určité hodnoty napětí na PN přechodu potom dochází v jejich okolí k lokálním lavinovým průrazům. Tyto lokální průrazy se pak mohou projevovat ve vnějším obvodě impulzním proudovým šumem, kdy jednotlivé impulzy mají náhodnou dobu vzniku a náhodnou dobu trvání. Proudový šum je závislý na napětí, s rostoucí hodnotou závěrného napětí na PN přechodu roste četnost impulzů a zároveň i jejich střední doba trvání. Bistabilní chování oblasti mikroplazmy lze pak za určitých okolností popsat dvoustavovým stochastickým procesem generace – rekombinace.

Czech abstract

Vznik šumu mikroplazmy je podmíněn nedokonalostmi krystalické mřížky PN přechodu. Oblasti těchto defektů se mohou vyznačovat nižší hodnotou průrazného napětí v závěrném stavu než zbytek PN přechodu. Při dosažení určité hodnoty napětí na PN přechodu potom dochází v jejich okolí k lokálním lavinovým průrazům. Tyto lokální průrazy se pak mohou projevovat ve vnějším obvodě impulzním proudovým šumem, kdy jednotlivé impulzy mají náhodnou dobu vzniku a náhodnou dobu trvání. Proudový šum je závislý na napětí, s rostoucí hodnotou závěrného napětí na PN přechodu roste četnost impulzů a zároveň i jejich střední doba trvání. Bistabilní chování oblasti mikroplazmy lze pak za určitých okolností popsat dvoustavovým stochastickým procesem generace – rekombinace.

BibTex


@inproceedings{BUT22110,
  author="Michal {Raška} and Pavel {Koktavý}",
  title="ŠUM MIKROPLAZMY – NALEZENÍ SOUČINITELŮ GENERACE A REKOMBINACE",
  annote="Vznik šumu mikroplazmy je podmíněn nedokonalostmi krystalické mřížky PN přechodu. Oblasti těchto defektů se mohou vyznačovat nižší hodnotou průrazného napětí v závěrném stavu než zbytek PN přechodu. Při dosažení určité hodnoty napětí na PN přechodu potom dochází v jejich okolí k lokálním lavinovým průrazům. Tyto lokální průrazy se pak mohou projevovat ve vnějším obvodě impulzním proudovým šumem, kdy jednotlivé impulzy mají náhodnou dobu vzniku a náhodnou dobu trvání. Proudový šum je závislý na napětí, s rostoucí hodnotou závěrného napětí na PN přechodu roste četnost impulzů a zároveň i jejich střední doba trvání. Bistabilní chování oblasti mikroplazmy lze pak za určitých okolností popsat dvoustavovým stochastickým procesem generace – rekombinace.",
  address="Brno University of Technology",
  booktitle="Non-Destructive Testing in Engineering Practice",
  chapter="22110",
  institution="Brno University of Technology",
  year="2006",
  month="november",
  pages="135",
  publisher="Brno University of Technology",
  type="conference paper"
}