Product detail

Funkční vzorek testovací lavice pro vysokorychlostní detekci směru odraženého světla

DOSTÁL, Z.

Product type

funkční vzorek

Abstract

Testovací lavice využívá DMD čip jako vysokorychlostní skener. Postupným promítáním série binárních masek tak postupně odráží části dopadajícího svazku. Jednotlivé části odraženého svazku reprezentují paprsek odražený od daného místa DMD čipu. Tento paprsek je fokusován čočkou na CMOS kameru. Z polohy dopadu lze spočítat úhel odraženého paprsku. Takto získané úhly reprezentují tvar vlnoplochy svazku po průchodu měřenou optickou soustavou.

Keywords

DMD čip, vysokorychlostní skener, vlnoplocha, detekce, numerická rekonstrukce

Create date

1. 12. 2021

Location

Fakulta strojnÍho inženýrství, Ustav fyzikálního inženýrství, Technická 2896/2, budova A2

Possibilities of use

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Licence fee

Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek