Publication detail

Kriteria kvality STM a SNOM

Original Title

Kriteria kvality STM a SNOM

Czech Title

Kriteria kvality STM a SNOM

Language

cs

Original Abstract

Článek je zaměřen na kriterium hodnocení metod STM a SNOM v nanotechnologii. Je zde pracováno s pojmem" počet stupňů volnosti", který je v článku brán jako základní měřítko kvality mikroskopů pracujících v blízkém poli.

Czech abstract

Článek je zaměřen na kriterium hodnocení metod STM a SNOM v nanotechnologii. Je zde pracováno s pojmem" počet stupňů volnosti", který je v článku brán jako základní měřítko kvality mikroskopů pracujících v blízkém poli.

BibTex


@inproceedings{BUT15985,
  author="Jaroslav {Kala}",
  title="Kriteria kvality STM a SNOM",
  annote="Článek je zaměřen na kriterium hodnocení metod STM a SNOM v nanotechnologii. Je zde pracováno s pojmem" počet stupňů volnosti", který je v článku brán jako základní měřítko kvality mikroskopů pracujících v blízkém poli.",
  address="Fakulta elektrotechnická, Západočeská universita v Plzni",
  booktitle="Elektrotechnika ainformatika 2005",
  chapter="15985",
  institution="Fakulta elektrotechnická, Západočeská universita v Plzni",
  year="2005",
  month="october",
  pages="31",
  publisher="Fakulta elektrotechnická, Západočeská universita v Plzni",
  type="conference paper"
}