Publication detail

Kriteria kvality STM a SNOM

Jaroslav Kala

Original Title

Kriteria kvality STM a SNOM

English Title

Criteria quality of STM and SNOM

Type

conference paper

Language

Czech

Original Abstract

Článek je zaměřen na kriterium hodnocení metod STM a SNOM v nanotechnologii. Je zde pracováno s pojmem" počet stupňů volnosti", který je v článku brán jako základní měřítko kvality mikroskopů pracujících v blízkém poli.

English abstract

The article is focused on an analysis of the general problem of quality criteria in near-field microscopy, i.e. the number of degrees of freedom. The principle of Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM) method and several terms from nanotechnology are also described.

Keywords

STM, SNOM, Kvalita

Key words in English

STM, SNOM, Quality

Authors

Jaroslav Kala

RIV year

2005

Released

1. 10. 2005

Publisher

Fakulta elektrotechnická, Západočeská universita v Plzni

Location

Plzeň

ISBN

80-7043-375-2

Book

Elektrotechnika ainformatika 2005

Edition number

1

Pages from

31

Pages to

34

Pages count

4

BibTex

@inproceedings{BUT15985,
  author="Jaroslav {Kala}",
  title="Kriteria kvality STM a SNOM",
  booktitle="Elektrotechnika ainformatika 2005",
  year="2005",
  volume="1",
  number="1",
  pages="4",
  publisher="Fakulta elektrotechnická, Západočeská universita v Plzni",
  address="Plzeň",
  isbn="80-7043-375-2"
}