Patent detail

Interferometrický systém a způsob měření prostorového rozložení indexu lomu

KOLMAN, P. CHMELÍK, R.

Patent type

Patent

Abstract

Způsob měření prostorového rozložení indexu lomu je vhodný k využití v digitální holografické mikroskopii k pozorování vzorků v odraženém i procházejícím záření a k pozorování luminiscenčních vzorků.

Keywords

fluorescence, interferometrie, tomografie, fluorescenční koherenční tomografie

Patent number

306015

Date of application

20. 10. 2014

Date of registration

11. 5. 2016

Owner

Vysoké učení technické v Brně, Brno, CZ

Possibilities of use

In order to use the result by another entity, it is always necessary to acquire a license

Licence fee

The licensor requires a license fee for the result

www

https://isdv.upv.cz/webapp/webapp.pts.det?xprim=10075974&lan=cs&s_majs=&s_puvo=&s_naze=&s_anot=