Project detail

Měření profilu povrchů pomocí bezkontaktní mikroskopie atomárních sil

Duration: 01.01.2004 — 31.12.2006

On the project

Měření morfologie a struktury povrchů mikroskopem atomárních sil (AFM - atomic force microscopy) je založeno na detekci meziatomárních sil mezi ostrým hrotem umístěným na konci pružného raménka a lokálními strukturami studovaného povrchu. Zatímco vkontak tním módu se hrot během rastrování neustále dotýká povrchu a profil povrchu je zaznamenáván ohyby raménka, v bezkontaktním módu je kmitající raménko udržováno v jistých vzdálenostech od povrchu (1-10 nm) a informace o profilu povrchu je získávánaze změn charakteristik kmitání raménka (např. amplitudy a efektivní vlastní frekvence). Výhoda bezkontaktního módu spočívá ve schopnosti měřit měkké vzorky, jako jsou biologické preparáty, rozhraní mezi kapalinou a plynem, maziva na površích a jiné, bezvýznamnéh o poškozování nebo změny sledovaného povrchu

Mark

GP202/04/P125

Default language

Czech

People responsible

Kalousek Radek, doc. Ing., Ph.D.
- principal person responsible (2004-01-01 - 2006-12-31)

Units

Institute of Physical Engineering
- (2004-01-01 - 2006-12-31)

Funding resources

Czech Science Foundation - Postdoktorandské granty
- whole funder (2004-01-01 - 2006-12-31)

Results

BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; KALOUSEK, R.; JÁNSKÝ, P.; ZLÁMAL, J.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. The influence of humidity on the kinetics of local anodic oxidation. Journal of Physics: Conference Series, 2007, vol. 61, no. 0, p. 75-79. ISSN: 1742-6588.
Detail

ČERVENKA, J.; KALOUSEK, R.; BARTOŠÍK, M.; ŠKODA, D.; TOMANEC, O.; ŠIKOLA, T. Fabrication of nanostructures on Si(100) and GaAs(1 0 0) by local anodic oxidation. Applied Surface Science, 2006, vol. 253, no. 5, p. 2373-2378. ISSN: 0169-4332.
Detail