Project detail

Metodiky návrhu řadiče testu pro vestavné systémy

Duration: 01.01.2003 — 31.12.2003

On the project

Snahou tohoto projektu bude navržení co nejkomplexnější metodiky pro vytváření plánu testu a uplatnění této metodiky pro vestavné systémy s cílem omezení příkonu testovacích obvodů v průběhu aplikace testu.

Description in English
The purpose of this project will be to design the most complex methodology for test plan and exercise of this methodology for embedded systems with goal to restrict power of tested circuits during test application.

Keywords
TAM, BIST, ASIC, TPG, VHDL

Key words in English
TAM, BIST, ASIC, TPG, VHDL

Mark

FR834/2003/G1

Default language

Czech

People responsible

Kotásek Zdeněk, doc. Ing., CSc. - fellow researcher
Mika Daniel, Ing., Ph.D. - principal person responsible

Results

MIKA, D. Uplatnění formálních postupů při návrhu řadiče testu číslicového systému. In Počítačové Architektury & Diagnostika Pracovní seminář pro studenty doktorského studia Sborník příspěvků. Brno: Fakulta informačních technologií VUT v Brně, 2003. s. 17-23. ISBN: 80-214-2471-0.
Detail

MIKA, D., KOTÁSEK, Z. Proc. of IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems Conference. In Proc. of IFAC Workshop on Programmable Devices and Systems Conference. Ostrava: Faculty of Electrical Engineering and Computer Science, VSB-TU Ostrava, 2003. p. 447-452. ISBN: 0-08-044130-0.
Detail

KOTÁSEK, Z., MIKA, D., STRNADEL, J. Test scheduling for embedded systems. In Proceedings EUROMICRO Symposium on Digital System Design - Architectures, Methods and Tools DSD 2003. Belek: IEEE Computer Society Press, 2003. p. 463-467. ISBN: 0-7695-2003-0.
Detail

MIKA, D. The Test Controller Design Based on I-Path Concept. In Proceedings of 9th Conference and Competition STUDENT EEICT 2003 Volume 3. Brno: Faculty of Electrical Engineering and Communication BUT, 2003. p. 624-628. ISBN: 80-214-2379-X.
Detail

MIKA, D., KOTÁSEK, Z. The Test Controller Model Based on The Timed Automaton. In Proceedings of 37th International Conference MOSIS´03 Modelling and Simulation of Systems. Ostrava: 2003. p. 107-114. ISBN: 80-85988-86-0.
Detail

KOTÁSEK, Z., MIKA, D., STRNADEL, J. Proceeding of IEEE Workshop on Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems. In Proceeding of IEEE Workshop on Design and Diagnostic of Electronic Circuits and Systems. Poznaň: Publishing House of Poznan University of Technology, 2003. p. 233-238. ISBN: 83-7143-557-6.
Detail

Responsibility: Mika Daniel, Ing., Ph.D.