Detail publikace

Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii

MACKŮ, R. KOKTAVÝ, P. ŠKARVADA, P.

Originální název

Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii

Anglický název

Non-destructive tensting of solar cell based on noise spectroscopy

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

U polovodičových PN přechodů se vlivem nedokonalostí při výrobě mohou vyskytovat lokální defekty. Jednou z možností jak posoudit tyto nedokonalosti nedestruktivní metodou, je využít přítomnosti mikroplazmatického šumu při závěrně polarizovaném přechodu. Šum mikroplazmy se projevuje ve formě dvou nebo více hladinových pravoúhlých impulzů. Pokud je pro měření použit napěťový zdroj, je mikroplazmatický šum charakteristický konstantní amplitudou, náhodným okamžikem vzniku a náhodnou dobou trvání. Tento šum patří do kategorie impulsního šumu, který je způsoben lokálními lavinovými výboji v malé oblasti přechodu a v místech, kde dislokace protíná PN přechod. Tento druh šumu lze nalézt u mnoha typů součástek jako například GaAsP LED diod, vysokonapěťových diod a je přítomný i u námi zkoumaných vzorků solárních článků. Ukazuje se, že studiem mikroplazmatického šumu lze získat velmi cenné informace o přechodu a je velmi často používán pro hodnocení výrobních technologií. Nutno podotknout, že u zkoumaných vzorků jsou přítomny i další zdroje šumů se značně odlišnými vlastnostmi. Pozorujeme energeticky dominantní nestacionární šum, pracovně označovaný jako šum typu B. Měřením získáváme velmi komplikovaný superpoziční šumový signál, u kterého není snadné jednotlivé zdroje rozpoznat.

Anglický abstrakt

This article deals with the application of noise measurements for the assessment of the quality of the solar cell itself and production technology alike. The main focus of this study is the random n-level (in most case just two-level) impulse noise, usually referred to as microplasma noise. This noise is a consequence of local breakdowns in micro-sized regions and brings about a reduction of lifetime or a destruction of the PN junction. The method is suitable for non-destructive testing of semiconductor devices. Here we pay attention to very large junctions of the solar cells.

Klíčová slova

Solární článek, mikroplazmatický šum, VA-charakteristika

Klíčová slova v angličtině

Solar cell, microplazma noise, IV curve

Autoři

MACKŮ, R.; KOKTAVÝ, P.; ŠKARVADA, P.

Rok RIV

2008

Vydáno

29. 11. 2008

Nakladatel

Czech RE Agency

Místo

Rožnov pod Radhoštěm

ISBN

978-80-254-3528-1

Kniha

Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference

Číslo edice

1

Strany od

123

Strany do

127

Strany počet

5

BibTex

@inproceedings{BUT27249,
  author="Robert {Macků} and Pavel {Koktavý} and Pavel {Škarvada}",
  title="Nedestruktivní testování křemíkových solárních článků založené na šumové spektroskopii",
  booktitle="Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference",
  year="2008",
  number="1",
  pages="123--127",
  publisher="Czech RE Agency",
  address="Rožnov pod Radhoštěm",
  isbn="978-80-254-3528-1"
}