Detail publikace

Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness

OHLÍDAL, I., FRANTA, D., OHLÍDAL, M., VIČAR, M., KLAPETEK, P.

Originální název

Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

angličtina

Autoři

OHLÍDAL, I., FRANTA, D., OHLÍDAL, M., VIČAR, M., KLAPETEK, P.

Vydáno

1. 11. 1998

Nakladatel

Physikalisch-Technische Bunesanstalt Ferrtiungsmestechnik

Místo

Braunschweig, Germany

ISBN

3-89701-280-4

Kniha

PTB - Bericht F-34

Strany od

123

Strany do

129

Strany počet

7

BibTex

@inproceedings{BUT21567,
  author="Ivan {Ohlídal} and Daniel {Franta} and Miloslav {Ohlídal} and Miroslav {Vičar} and Petr {Klapetek}",
  title="Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness",
  booktitle="PTB - Bericht F-34",
  year="1998",
  pages="7",
  publisher="Physikalisch-Technische Bunesanstalt Ferrtiungsmestechnik",
  address="Braunschweig, Germany",
  isbn="3-89701-280-4"
}