Detail publikace

The Monte Carlo simulations for Advanced Environmental Scanning Electron Microscopy (A-ESEM)

MARTÍNEK, F. NEDĚLA, V.

Originální název

The Monte Carlo simulations for Advanced Environmental Scanning Electron Microscopy (A-ESEM)

Typ

abstrakt

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

Introduction of the capabilities of a new simulation method for processess in A-ESEM

Klíčová slova

A-ESEM; Markov chain; simulation; ESD;

Autoři

MARTÍNEK, F.; NEDĚLA, V.

Vydáno

26. 6. 2023

Strany do

1

Strany počet

1

URL

https://mcm2023.sciencesconf.org/resource/page/id/5

BibTex

@misc{BUT184043,
  author="František {Martínek} and Vilém {Neděla}",
  title="The Monte Carlo simulations for 
Advanced Environmental Scanning
Electron Microscopy (A-ESEM)",
  year="2023",
  pages="1",
  url="https://mcm2023.sciencesconf.org/resource/page/id/5",
  note="abstract"
}