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IBIS-trends bei der Signalintegrität

Originální název

IBIS-trends bei der Signalintegrität

Jazyk

de

Originální abstrakt

Bereits seit etlichen Jahren ist Signalintegrität ein heißes Thema für viele Baugruppenentwickler - besonders für Entwickler von Systemen, die an vorderster technologischer Front stehen. Bei Silizium-Prozessen für Strukturen unter 0,5um wird fast jeder Entwickler mit Flankensteilheiten konfrontiert, die eine Signalintegritätsanalyse erfordern.

BibTex


@inproceedings{BUT11849,
  author="Arnošt {Bajer} and Vladislav {Musil} and Tomáš {Brich}",
  title="IBIS-trends bei der Signalintegrität",
  annote="Bereits seit etlichen Jahren ist Signalintegrität ein heißes Thema für viele Baugruppenentwickler - besonders für Entwickler von Systemen, die an vorderster technologischer Front stehen. Bei Silizium-Prozessen für Strukturen unter 0,5um wird fast jeder Entwickler mit Flankensteilheiten konfrontiert, die eine Signalintegritätsanalyse erfordern.",
  address="Technological Institute of Crete, Greece.",
  booktitle="Socrates Workshop 2004. Intensive Training Programme in Electronic System Design. Proceedings.",
  chapter="11849",
  institution="Technological Institute of Crete, Greece.",
  journal="-",
  year="2004",
  month="september",
  pages="121",
  publisher="Technological Institute of Crete, Greece.",
  type="conference paper"
}