Detail produktu

Testovací zařízení pro výzkum výkonově kontaktovaných čipů

NOVOTNÝ, M. JANKOVSKÝ, J. SZENDIUCH, I.

Typ produktu

funkční vzorek

Abstrakt

Jedná se o zařízení pro testování proudové zatížitelnosti kontaktovaných polovodičových čipů s maximálním proudem do 10 A.

Klíčová slova

čip, wirebonding, výkonové kontaktování

Datum vzniku

01.11.2007

Umístění

UMEL

Možnosti využití

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Licenční poplatek

Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek