Detail produktu

Testovací čip pro měření nelineárních kondenzátorů modifikovanou metodou CBCM

Sutorý, T.

Typ produktu

prototyp

Abstrakt

Testovací čip slouží k ověření modifikované metody CBCM sloužící k měření a charakterizaci nelineárních kondenzátorů. Naměřená data z 64 testovacích struktůr slouží k výzkumu nelineárních kondenzátorů a jejich linearizace.

Klíčová slova

CBCM, nelineární kondenzátory, MOS kondenzátory, měření

Datum vzniku

1. 9. 2006

Umístění

Ústav radioelektroniky Purkyňova 118 612 00 Brno

Možnosti využití

Využití výsledku jiným subjektem je možné bez nabytí licence (výsledek není licencován)

Licenční poplatek

Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje licenční poplatek

www

Ústav radioelektroniky Purkyňova 118 612 00 Brno