Detail produktu

Calibration sample for magnetic contrast in SEM

KOLÍBAL, M. URBÁNEK, M. DHANKHAR, M. VYSTAVĚL, T.

Typ produktu

funkční vzorek

Abstrakt

Three samples for magnetic domain imaging, with the 15x(Pt/Co) multilayer patterned areas exhibiting out-of-plane magnetization.

Klíčová slova

magnetic contrast, platinum/cobalt multilayer, Kerr microscopy, focused ion beam

Datum vzniku

31. 12. 2021

Umístění

Laboratoře CEITEC Nano, Purkyňova 123, Brno 61200

Možnosti využití

Výsledek je využíván vlastníkem

Licenční poplatek

Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

www

http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/calibration-sample-for-magnetic-contrast-imaging-in-sem/