Detail publikace

Seznam a popis vybraných aplikací a vzorků pro další testování

KONEČNÝ, M.

Originální název

Seznam a popis vybraných aplikací a vzorků pro další testování

Anglický název

Seznam a popis vybraných aplikací a vzorků pro další testování

Typ

různé

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Seznam vzorků a vhodných aplikačních měření demonstrujících co nejlépe výhody společné integrace mikroskopu atomárních sil a elektronového mikroskopu byl vytvořen provedením průzkumu trhu na základě literární/webové rešerše a na základě komunikace s jednotlivými vědeckými týmy působícími v rámci výzkumné infrastruktury CEITEC. Při výběru vhodných aplikací se vycházelo zejména ze zřejmých výhod, které využití mikroskopu LiteScope spolu s elektronovými mikroskopy přináší

Anglický abstrakt

A list of samples and suitable application measurements demonstrating the best possible benefits of the joint integration of the atomic force microscope and the electron microscope was created by conducting a market research based on a literature / web search and on communication with individual scientific teams operating within the CEITEC research infrastructure. The selection of suitable applications was based mainly on the obvious advantages that the use of the LiteScope microscope together with electron microscopes brings.

Klíčová slova

mikroskopie atomových sil; rastrovací elektronová mikroskopie; korelační mikroskopie; AFM-v-SEM; nanoindentace

Klíčová slova v angličtině

atomic force microscopy; scanning electron microscopy; correlative microscopy; AFM-in-SEM; nanoindentation

Autoři

KONEČNÝ, M.

Vydáno

31. 12. 2019

Strany počet

23

BibTex

@misc{BUT164108,
  author="Martin {Konečný}",
  title="Seznam a popis vybraných aplikací a vzorků pro další testování",
  year="2019",
  pages="23",
  note="miscellaneous"
}