funkční vzorek

Jedná se o zvětšený funkční model mikroskopu s rastrující sondou. Model je určený pro výukové a prezentační účely. Celý vývoj hardwaru, elektroniky i softwaru výukového modelu byl proveden na ÚFI. Model mikroskopu je uzpůsoben pro měření analogie AFM, ale díky vlastnímu vývoji zařízení lze implementovat analogie dalších technik SPM. Ve stávajícím stavu model dovoluje demonstraci měření v kontaktním módu i v tzv. tapping módu, a to jak v režimu konstantní výšky, tak v režimu konstantní interakce mezi vzorkem a hrotem. Model mikroskopu je vestavěn do přenosného kufříku což dovoluje snadný transport zařízení na místo prezentace. Řízení procesu měření a zobrazování měřených dat je prováděno pomocí jednodeskového počítače vestavěného v zařízení, takže pro demonstrační měření je navíc potřebné pouze externí zobrazovací zařízení.

rastrovací sondový mikroskop; model; výuka; prezentace; princip; polohovací stolek

4. 8. 2015

FSI VUT v Brně, Ústav fyzikálního inřenýrsví

K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence

Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek

http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2015-05/