Detail projektu

Pokročilé mikroskopické techniky

Období řešení: 01.07.2019 — 31.12.2022

Zdroje financování

Ministerstvo průmyslu a obchodu ČR - TRIO

- plně financující (2019-07-17 - 2022-12-31)

O projektu

Cílem projektu POMITE je rozšíření aplikačního a komerčního využití produktu LiteScope. Jedná se o zařízení speciálně určené pro integraci do elektronových mikroskopů prohlubující moderní oblast korelativní mikroskopie, které společnost NenoVision vyvinula a uvedla na trh mikroskope atomárních sil. K naplnění stanoveného cíle POMITE byly na základě analýzy zákaznických požadavků a trhu vybrány tří oblasti inovace produktu: a) zrychlení doby měření mikroskopu LitesScope pomocí tzv. „Fast imaging“ pomocí upgradu vybraných komponent, b) rozšíření současného zařízení o techniky potřebné pro nanoindentaci a charakterizaci mechanických vlastností vzorků a c) vývoj softwarových a jiných nástrojů podporujících interpretaci dat pro korelativní zobrazování a pokročilých mikroskopických technik. Realizace těchto cílů by měla výrazně zvýšit aplikační využití pro produkt LiteScope. V praxi budou výsledky projekty využity společností NenoVision, která uvede na trh inovovaný produkt s rozšiřujícími moduly. Z komerčního pohledu očekáváme po úspěšné realizaci projektu navýšení počtu prodaných kusů produktu LiteScope, navýšení jednotkové ceny produktu a nárůst obratu společnosti NenoVision. Výstupem budou dva prototypy inovovaného produktu zaměření na nanoinentaci a fast imaging, které kromě funkčního testování projdou i řadou aplikačních měření a jejich optimalizací.

Klíčová slova
mikroskopie; korelativní zobrazování; nanoindentace; afm; sem; nanotechnologie

Označení

FV40238

Originální jazyk

čeština

Řešitelé

Urbánek Michal, Ing., Ph.D. - hlavní řešitel

Útvary

Sdílená laboratoř RP1
- příjemce (04.10.2018 - nezadáno)
Středoevropský technologický institut VUT
- odpovědné pracoviště (04.10.2018 - 19.10.2018)

Výsledky

NEČAS, D.; YACOOT, A.; VALTR, M.; KLAPETEK, P. Demystifying data evaluation in the measurement of periodic structures. Measurement Science and Technology, 2023, vol. 34, no. 5, p. 1-21. ISSN: 1361-6501.
Detail

VALTR, M.; KLAPETEK, P.; MARTINEK, J.; NOVOTNY, O.; JELINEK, Z.; HORTVÍK, V.; NEČAS, D. Scanning Probe Microscopy controller with advanced sampling support. HardwareX, 2023, vol. 15, no. e00451, ISSN: 2468-0672.
Detail

ALMOTASEM, A.; DAGHBOUJ, N.; SEN, H.; MIRZAEI, S.; CALLISTI, M.; POLCAR, T. Influence of HCP/BCC interface orientation on the tribological behavior of Zr/Nb multilayer during nanoscratch: A combined experimental and atomistic study. ACTA MATERIALIA, 2023, vol. 249, no. 118832, ISSN: 1873-2453.
Detail