Cílem studia je poskytnout studentům vzdělání a umožnit jim vědecký výzkum v oblastech inženýrská optika, fyzika povrchů, mikromechanika materiálů, strojírenské materiály, fyzikální metalurgie a aplikovaný výzkum keramiky.

prof. RNDr. Miroslav Liška, DrSc.

1. Modelování deformačních a transformačních procesů na čele trhlin v materiálech s tvarovou pamětí

   Obsahem práce bude modelování procesů, které podmiňují odpor proti šíření trhlin v materiálech s tvarovou pamětí. Tyto procesy zahrnují, kromě skluzových mechanizmů plastické deformace i deformačně indukovanou fázovou transformaci z kubicky prostorově středěné mřížky do monoklinické, provázené dvojčatěním.

   Školitel: Šandera Pavel, prof. RNDr., CSc.

2. Příprava a charakterizace nanostruktur GaN

   Výzkum nanostruktur GaN: - příprava nanostruktur (ultratenkých vrstev, nanokrystalů a nanovláken) GaN využitím atomárních/iontových svazků a dalších metod, - charakterizace složení a struktury GaN, - měření optických vlastností (fotoluminiscence) GaN nanostruktur.

   Školitel: Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc.

3. Šíření únavových trhlin ve smykových módech II, III a II+III v prahové oblasti

   Problematika šíření trhlin zatěžovaných ve smykových módech II, III a jejich kombinaci II+III je jedním z nejaktuálnějších témat ve světovém výzkumu únavy materiálů. Jde zejména o rychlost šíření dlouhých trhlin v prahové oblasti a kvantifikaci podmínek jejich přechodu do otevíracího módu I. V odboru MMTA ÚFI se touto problematikou zabýváme již několik let ve velmi úzké spolupráci s Ústavem materiálových věd Ericha Schmida, Rakouská akademie věd v Leobenu, kde probíhají experimenty na austenitické oceli a ARMCO železe. V rámci disertace bude pokračováno v tomto výzkumu i při studiu dalších kovových materiálů, zejména v prahové oblasti šíření. Práce budou rovněž podporovány grantem GAČR číslo P108/10/0698, který je řešen ve spolupráci s Ústavem termomechaniky AVČR v Praze.

   Školitel: Pokluda Jaroslav, prof. RNDr., CSc.

4. Zobrazování a analýza pomocí iontových svazků zfokusovaných do malých stop

   Používané FIB systémy ve spojení s rastrovacími elektronovými mikroskopy (případně i se SIMS analyzátorem) a specializované SIMS systémy používají svazky zfokusované do stop 2,5-25 nm. Popis jejich chování při zobrazování, rozprašování a ionizaci sekundárních iontů není dostatečně známý. Cílem práce je popis interakce iontového svazku malých průměrů (vhodné ionty He, Ne, Ar, Ga, Xe, Bi klastry, fulerény), vznik sekundárních elektronů, rozprašování, vznik sekundárních iontů. Prostudujte důsledky pro analýzu pomocí SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) metody a pro zobrazování pomocí detektorů sekundárních elektronů a iontů.

   Školitel: Lencová Bohumila, prof. RNDr., CSc.