RNDr.

Alois Nebojsa

FSI, ÚFI OFPN – vědecký pracovník

+420 54114 2851
nebojsa@fme.vutbr.cz

Odeslat VUT zprávu

RNDr. Alois Nebojsa

Publikace

  • 2024

    ALLAHAM, M.; DALLAEV, R.; BURDA, D.; SOBOLA, D.; NEBOJSA, A.; KNÁPEK, A.; MOUSA, M.; KOLAŘÍK, V. Energy gap measurements based on enhanced absorption coefficient calculation from transmittance and reflectance raw data. PHYSICA SCRIPTA, 2024, roč. 99, č. 1, s. 1-9. ISSN: 1402-4896.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2022

    DREXLER, P.; NEŠPOR, D.; KADLEC, R.; KŘÍŽ, T.; NEBOJSA, A. Simulation and Characterization of Nanostructured Electromagnetic Scatterers for Information Encoding. Electronics (MDPI), 2022, roč. 11, č. 20, s. 1-12. ISSN: 2079-9292.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2021

    SEDLÁK, P.; SOBOLA, D.; GAJDOŠ, A.; DALLAEV, R.; NEBOJSA, A.; KUBERSKÝ, P. Surface Analyses of PVDF/NMP/[EMIM][TFSI] Solid Polymer Electrolyte. Polymers, 2021, roč. 13, č. 16, s. 1-16. ISSN: 2073-4360.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

    PAPEŽ, N.; DALLAEV, R.; KASPAR, P.; SOBOLA, D.; ŠKARVADA, P.; ŢĂLU, Ş.; RAMAZANOV, S.; NEBOJSA, A. Characterization of GaAs Solar Cells under Supercontinuum Long-Time Illumination. Materials, 2021, roč. 14, č. 2, s. 1-13. ISSN: 1996-1944.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2020

    PAPEŽ, N.; GAJDOŠ, A.; DALLAEV, R.; SOBOLA, D.; SEDLÁK, P.; MOTÚZ, R.; NEBOJSA, A.; GRMELA, L. Performance analysis of GaAs based solar cells under gamma irradiation. Applied Surface Science, 2020, č. 510, s. 265-272. ISSN: 0169-4332.
    Detail | WWW

  • 2019

    KASPAR, P.; SOBOLA, D.; DALLAEV, R.; RAMAZANOV, S.; NEBOJSA, A.; REZAEE, S.; GRMELA, L. Characterization of Fe2O3 thin film on highly oriented pyrolytic graphite by AFM, Ellipsometry and XPS. Applied Surface Science, 2019, roč. 493, č. 1, s. 673-678. ISSN: 0169-4332.
    Detail | WWW

    SOBOLA, D.; KASPAR, P.; NEBOJSA, A.; HEMZAL, D.; GRMELA, L.; SMITH, S. Characterization of the native oxide on CdTe surfaces. MATERIALS SCIENCE-POLAND, 2019, roč. 37, č. 2, s. 206-211. ISSN: 2083-134X.
    Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  • 2018

    PAPEŽ, N.; SOBOLA, D.; GAJDOŠ, A.; ŠKVARENINA, Ľ.; MACKŮ, R.; ELIÁŠ, M.; NEBOJSA, A.; MOTÚZ, R. Surface morphology after reactive ion etching of silicon and gallium arsenide based solar cells. Journal of Physics: Conference Series, 2018, roč. 1124, č. 4, s. 165-171. ISSN: 1742-6596.
    Detail | WWW

  • 2005

    BONAVENTUROVÁ - ZRZAVECKÁ, O.; BRANDEJSOVÁ, E.; ČECHAL, J.; POTOČEK, M.; NEBOJSA, A.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T.; HUMLÍČEK, J. UV in-situ degradation of PMPSi analysed by spectroscopic ellipsometry, XPS and TDS. 1. Vienna: 2005. s. 294-294.
    Detail

  • 2004

    BRANDEJSOVÁ, E.; ČECHAL, J.; BONAVENTUROVÁ, O.; NEBOJSA, A.; TICHOPÁDEK, P.; URBÁNEK, M.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T.; HUMLÍČEK, J. In situ analysis of PMPSi thin films by spectroscopic ellipsometry. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9, s. 260 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

    ČECHAL, J.; TICHOPÁDEK, P.; NEBOJSA, A.; BONAVENTUROVÁ, O.; URBÁNEK, M.; SPOUSTA, J.; NAVRÁTIL, K.; ŠIKOLA, T. In situ analysis of PMPSi by spectroscopic ellipsometry and XPS. Surface and Interface Analysis, 2004, roč. 38, č. 8, s. 1218 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

  • 2002

    SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., URBÁNEK, M., NAVRÁTIL, K., JIRUŠE, J., CHMELÍK, R., NEBOJSA, A. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1, s. 664 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

    TICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., ČECHAL, J., JURKOVIČ, P., BÁBOR, P. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1, s. 531 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
    Detail

  • 2001

    TICHOPÁDEK, P.; ŠIKOLA, T.; NEBOJSA, A.; ČECHAL, J. Application of Spectroscopic Ellipsometry in Ultrathin Film Analysis. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 415 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
    Detail

    SPOUSTA, J., URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. In situ measurements of surface homogeneity of optical parameters of weakly absorbing thin films. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. s. 295 ( s.)
    Detail

    TICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. s. 360 ( s.)
    Detail

    TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., ČECHAL, J. Ellipsometry - a tool for surface and thin film analysis. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. s. 102 ( s.)
    Detail

    TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., ČECHAL, J. Konstrukce elipsometru pro měření tenkých vrstev a povrchů. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 136 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
    Detail

  • 2000

    ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., LOPOUR, F., ZLÁMAL, J., TICHOPÁDEK, P., KRÁL, J., RAFAJA, D., RANNO, L. Deposition of Thin Films/ Multilayers by IBAD. In procedings of conference Metal 2000. Ostrava: VŠB Ostrava, 2000. s. 81 ( s.)
    Detail

    TENGEL, M., NEBOJSA, A. Termochemická analýza jakosti povrchu regenerovaných ostřiv. In II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI. Brno: Vutium, 2000. s. 325 ( s.)
    Detail

    URBÁNEK, M., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., CHMELÍK, R., ZLÁMAL, J., JIRUŠE, J. Monitoring of surface homogeneity of optical parameters of thin films. In Micromat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. s. 604 ( s.)
    Detail

*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.