Detail publikace

Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku

BŘÍNEK, L. DVOŘÁK, P. NEUMAN, T. DUB, P. KALOUSEK, R. ŠIKOLA, T.

Originální název

Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku

Anglický název

Application of scanning near field optical microscope for plasmonics

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Článek se zabývá měřením povrchových plazmonových polaritonů pomocí rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli. Interference povrchových plazmonových polaritonů jsou měřeny na strukturách sestavených z dvojice excitačních drážek připravených fokusovaným iontovým svazkem na kovovém povrchu. Interferenční obrazce v oblasti mezi excitačními drážkami jsou závislé na vzájemném úhlu drážek a polarizaci dopadajícího elektromagnetického svazku.

Anglický abstrakt

The article deals with measurements of surface plasmon polaritons via scanning near field optical microscope. Interference patterns of surface plasmon polaritons have been measured between pairs of excitation grooves fabricated by the focused ion beam on the metallic surface. Interference patters in the space among excitation grooves depend on the mutual angle between the grooves and the polarization state of the incident electromagnetic field.

Klíčová slova

Optická mikroskopie v blízkém poli; plazmonika; interference

Klíčová slova v angličtině

Near field optical microscopy; plasmonics; interference

Autoři

BŘÍNEK, L.; DVOŘÁK, P.; NEUMAN, T.; DUB, P.; KALOUSEK, R.; ŠIKOLA, T.

Rok RIV

2013

Vydáno

1. 6. 2013

ISSN

0447-6441

Periodikum

Jemná mechanika a optika

Ročník

58

Číslo

6

Stát

Česká republika

Strany od

169

Strany do

171

Strany počet

3

BibTex

@article{BUT100683,
  author="Lukáš {Břínek} and Petr {Dvořák} and Tomáš {Neuman} and Petr {Dub} and Radek {Kalousek} and Tomáš {Šikola}",
  title="Aplikace rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli pro plasmoniku",
  journal="Jemná mechanika a optika",
  year="2013",
  volume="58",
  number="6",
  pages="169--171",
  issn="0447-6441"
}