Detail publikace

Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů

GRMELA, L.

Originální název

Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů

Anglický název

Non-destructive spectroscopy testing methodes of optoelectronic devices and materials

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie

Anglický abstrakt

Teze přednášky k profesorskému jmenovacímu řízení v oboru elektrotechnická a elektronická technologie

Klíčová slova

spektrální šumová hustota, transport nosičů, pohyblivost, 1/f šum, poměr sigálúšum, spolehlivost, evanescentní pole, nanometrologie, fotoproud

Klíčová slova v angličtině

Sspectral noise density, transporrt charges, mobility, 1/f noise, signal / noise ratio, reliability, degradation, evanescent fiel, nanometrology, photocurrent

Autoři

GRMELA, L.

Rok RIV

2012

Vydáno

2. 1. 2012

ISSN

1213-418X

Periodikum

Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice Habilitační a inaugurační spisy

Ročník

2012

Číslo

401

Stát

Česká republika

Strany od

1

Strany do

35

Strany počet

35

BibTex

@article{BUT96594,
  author="Lubomír {Grmela}",
  title="Nedestruktivní spektroskopické metody testování optoelektronických součástek a materiálů",
  journal="Vědecké spisy Vysokého učení technického v Brně Edice Habilitační a inaugurační spisy",
  year="2012",
  volume="2012",
  number="401",
  pages="1--35",
  issn="1213-418X"
}