Detail publikace

Scintillation Secondary Electron Detector For ESEM And SEM

JIRÁK, J. ČUDEK, P. NEDĚLA, V.

Originální název

Scintillation Secondary Electron Detector For ESEM And SEM

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

angličtina

Originální abstrakt

This article is foccused on introduction of advantages of scintillation SE detector as a detoctor for SEM and ESEM.

Klíčová slova

SEM, ESEM, scintillation SE detector

Autoři

JIRÁK, J.; ČUDEK, P.; NEDĚLA, V.

Rok RIV

2012

Vydáno

27. 7. 2012

ISSN

1431-9276

Periodikum

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS

Ročník

2012 (18)

Číslo

Suppl 2

Stát

Spojené státy americké

Strany od

1266

Strany do

1267

Strany počet

2

BibTex

@article{BUT93233,
  author="Josef {Jirák} and Pavel {Čudek} and Vilém {Neděla}",
  title="Scintillation Secondary Electron Detector For ESEM And SEM",
  journal="MICROSCOPY AND MICROANALYSIS",
  year="2012",
  volume="2012 (18)",
  number="Suppl 2",
  pages="1266--1267",
  issn="1431-9276"
}