Posudek grantové přiflášky GAČR

článek souhrnný, posudek

čeština

Navrhovatel předkládá k posouzení novou metodu pro měření deformací. Popsaná metoda by byla s výhodami využitelná pro měření např. ve stavebnictví a ve strojírenství. Je prezentována jako nová metoda rozšiřující již stávající poznatky v oboru bezkontaktního měření a navrhovatel ji uvádí jako velmi preferovanou v zahraničí. Z uvedeného vyplývá, že se jedná se o měření deformací pomocí gradientu odraženého vlnového pole, které navíc využívá nejnovějších poznatků z oblasti CCD senzorů a LCD prvků. Tato metoda by měla umožňovat měření malých i velkých deformací s vysokou vyhodnocovací rychlostí. V současnosti se měření deformací potýká zejména s dvěmy problémy. Ve většině známých metod potřebou koherentního zdroje záření a složitou konstrukcí, která musí ochránit měřící zařízení před otřesy a jinými vnějšími vlivy. Navrhovaná metoda by měla, při zachování přesnosti stávajících přístrojů, tyto nevýhody odstranit. Navrhovatel uvádí, že při měření nebude nutný koherentní zdroj záření a zařízení nebude ze svého principu citlivé na otřesy. Navíc by mělo měření být alespoň dvakrát rychlejší než u stávajících známých metod. Navrhovaná metoda by mohla způsobit průlom v měřící technice. Přesto však musím vytknout její nejasnou definici v grantové žádosti a zejména malé množství informací obsažené v návrhu metodiky a koncepci řešení. Ačkoli navrhovatel uvádí, že problematice je ve světě věnována velká pozornost, zcela chybí jakýkoliv odkaz na publikaci v zahraničním či domácím periodiku.

recension of the grant.

optoelectronics

MIKEL, B.

1. 1. 2002