Detail publikace

Analýza pájení integrovaných obvodů metodou konečných prvků

FIALA, P.

Originální název

Analýza pájení integrovaných obvodů metodou konečných prvků

Anglický název

Integrated circuits soldering analysis by finite element method

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Příspěvek přináší výsledky analýzy přechodného děje, kterým je proces pájení mikročipu na základní desku. Deska je složena z více tenkých vrstev, pájení se provádí prouděním horkého vzduchu. Pájení se uskuteční při změně vlastností pájecí pasty při kritické teplotě. Na pájený spoj jsou kladeny velké požadavky z hlediska mechanické, teplotní a elektrické odolnosti. Analýza byla ověřena měřením pro navržený a analyzovaný numerický model.

Anglický abstrakt

The paper describes results of a transient analysis process of a solder process a microchip on a main board. The board is comprised from many slim layers. The solder is made with heat air convection. The solder is executed when the solder paste converts its properties and obtains the critical temperature. The sophisticated requirements are given on the soldering contact from point of view a mechanical, thermal and electric durable. The analysis was verified by measuring on the projected and numerical solved model.

Klíčová slova

Analýza, proudění, vzduch, pájení, přechodný děj, konečné prvky, měření

Klíčová slova v angličtině

Analysis, convection, air, soldering, transient effect, finite element method, measuring

Autoři

FIALA, P.

Vydáno

26. 9. 2002

Nakladatel

Svs FEM s.r.o Brno

Místo

Brno

ISBN

80-238-9394-7

Kniha

10. ANSYS Users´Meeting

Strany od

I-C-3

Strany počet

200