Detail publikace

Analýzy vad při zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek

NOVOTNÝ, R.

Originální název

Analýzy vad při zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek

Anglický název

Failure analysis of the electronic devices

Typ

článek v časopise - ostatní, Jost

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Cíl nulového počtu neshod a komplexnost ve výrobě elektronických součástek vytváří požadavky, že spolehlivost a vysoká technologický výtěžnost musí být hodnocena. Analýza vad napomáha indentifikování potenciálních problémů se spolehlivostí, které mohou být eliminovány.

Anglický abstrakt

The achievement of zero failures and the complexity of the integrated circuit implies that reliability and high manufacturing yield must be evaluated. Failure analysis can identify potencial reliability problems, which may then be eliminated.

Klíčová slova v angličtině

Reliability, quality, electronic devices, reliability improvement, failure rate, failure analysis.

Autoři

NOVOTNÝ, R.

Vydáno

29. 6. 2001

ISSN

1213-1539

Periodikum

Elektrorevue - Internetový časopis (http://www.elektrorevue.cz)

Ročník

28/2001

Číslo

6

Stát

Česká republika

Strany od

1

Strany do

9

Strany počet

9

URL

http://www.elektrorevue.cz

BibTex

@article{BUT40110,
  author="Radovan {Novotný}",
  title="Analýzy vad při zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek",
  journal="Elektrorevue - Internetový časopis (http://www.elektrorevue.cz)",
  year="2001",
  volume="28/2001",
  number="6",
  pages="9",
  issn="1213-1539",
  url="http://www.elektrorevue.cz"
}