Detail publikace

Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek

NOVOTNÝ, R.

Originální název

Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek

Typ

článek ve sborníku ve WoS nebo Scopus

Jazyk

čeština

Originální abstrakt

Článek prezentuje zrychlené zkoušky v komplexu problematiky zabezpečování spolehlivosti elektronických součástek.

Anglický abstrakt

The article presents accelerated stress testing in the reliability assurance of the electronic devices.

Klíčová slova v angličtině

accelerate tests, reliability, electronic devices, failure mechanisms

Autoři

NOVOTNÝ, R.

Vydáno

1. 1. 2000

Místo

Brno

ISBN

80-214-1781-1

Kniha

20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT

Strany od

165

Strany do

170

Strany počet

6

BibTex

@inproceedings{BUT3859,
  author="Radovan {Novotný}",
  title="Zrychlené zkoušky v testování spolehlivosti součástek",
  booktitle="20 let Ústavu mikroelektroniky FEI VUT",
  year="2000",
  pages="6",
  address="Brno",
  isbn="80-214-1781-1"
}